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            布魯克衍射熒光事業(yè)部(Bruker AXS)

            BUSINESS

            當前位置:> 供求商機> 布魯克X射線衍射儀 D8 ADVANCE

            [供應]布魯克X射線衍射儀 D8 ADVANCE

            貨物所在地:北京北京市

            產地:德國進口

            更新時間:2025-01-30 21:00:07

            有效期:2025年1月30日 -- 2025年7月30日

            已獲點擊:228

            聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網

            D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過TWIST TUBE技術,使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用(常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點光源應用(織構、應力、微區(qū))的切換,讓光路互換、重新對光等問題成為歷史。

            高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司提供全球保證!

            先進的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍,不僅答復提高設備的使用效率, 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。


            技術指標:                                              

            ●Theta/theta 立式測角儀

            ●2Theta角度范圍:-110~168°

            ●角度精度:0.0001度

            ●Cr/Co/Cu靶,標準尺寸光管

            ●探測器:林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器

            ●儀器尺寸:1868x1300x1135mm

            ●重量:770kg


            主要功能


            ●TWIN / TWIN 光路

            布魯克TWIN-TWIN光路設計極大地簡化了D8 ADVANCE的操作,使之適用于多種應用和樣品類型。為便于用戶使用,該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進行自動切換。該系統(tǒng)無需人工干預,即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進行切換,且無需人工干預,是在環(huán)境下和非環(huán)境下對包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在內的所有類型的樣品進行分析的理想選擇。

            ●動態(tài)光束優(yōu)化(DBO)

            布魯克DBO功能為X射線衍射的數據質量樹立了全新的重要基準。馬達驅動發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測器窗口的自動同步功能,可為您提供高質量的數據——尤其是在低2Θ角度時。除此之外,LYNXEYE全系列探測器均支持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。

            ●LYNXEYE XE-T

            LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D數據的能量色散探測器,適用于所有波長(從Cr到Ag),具有高計數率和好的角分辨率,是所有X射線衍射和散射應用的理想選擇。

            LYNXEYE XE-T具有優(yōu)于380 eV的能量分辨率,著實出色,是市面上性能好的的熒光過濾器探測器系統(tǒng)。借助它,您可在零強度損失下對由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進行100%過濾,而且無需金屬濾波片,因此數據也不會存在偽影,如殘余K?和吸收邊。同樣,也無需用到會消除強度的二級單色器。

            布魯克提供LYNXEYE XE-T探測器保證:交貨時保證無壞道!

            應用:

            ●物相定性分析

            ●結晶度及非晶相含量分析

            ●結構精修及解析

            ●物相定量分析

            ●點陣參數精確測量

            ●無標樣定量分析

            ●微觀應變分析

            ●晶粒尺寸分析

            ●原位分析

            ●殘余應力

            ●低角度介孔材料測量

            ●織構及ODF分析

            ●薄膜掠入射

            ●薄膜反射率測量

            ●小角散射





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