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對10μm以上粗顆粒進(jìn)行分類和計(jì)數(shù)的落塵計(jì)數(shù)器DTSP10-03介紹
閱讀：1000 發(fā)布時間：2024-5-4對10μm以上粗顆粒進(jìn)行分類和計(jì)數(shù)的落塵計(jì)數(shù)器DTSP10-03介紹
一種特殊的測量裝置，可以測量落塵而不是浮塵。對10μm以上的粗顆粒進(jìn)行分類和計(jì)數(shù)。
*這是與“粗顆粒計(jì)數(shù)器"不同的測量裝置。
您有這些問題嗎？
即使在無塵室中工作，異物的量也沒有減少。
盡管它是使用粒子計(jì)數(shù)器進(jìn)行管理的，但不可能將其與缺陷關(guān)聯(lián)起來。
我想創(chuàng)造一個干凈的環(huán)境，但不知道如何管理。
我們很難處理從衣服等引入的異物。
通過測量落下的灰塵而不是漂浮的灰塵，可以采取針對附著異物的對策！
如果您想減少產(chǎn)品上附著的異物量，則應(yīng)使用落塵計(jì)數(shù)器而不是顆粒計(jì)數(shù)器進(jìn)行測量。
原因是：
① 導(dǎo)致附著異物的粗顆粒較大，范圍為 10 μm 至 100 μm，無法用顆粒計(jì)數(shù)器測量。
② 大顆粒不會漂浮在空氣中，而是沉降并成為落塵。
上面提到了兩個。
因此，通過測量落下的灰塵而不是空氣中微小的漂浮灰塵，可以管理附著的異物。
什么是落塵計(jì)數(shù)器？
這是一種特殊的測量裝置，可以測量掉落的粗顆粒而不是漂浮的灰塵。
利用樣品收集板（4英寸硅片），利用粗顆粒的沉降特性，對下落的10μm以上的粗顆粒進(jìn)行分級計(jì)數(shù)。
它可以在任何可以放置硅晶圓的地方進(jìn)行評估。
*硅晶片：圓盤狀樣品板，是表面平整度和耐熱性優(yōu)異的半導(dǎo)體基板。
對于頭發(fā)等100μm以上的異物，由于其形狀和重量，不適合使用硅片作為樣品。
建議使用“DUSCAR®100 BLACK"來調(diào)查較大的異物。
落塵計(jì)數(shù)器詳細(xì)資料
| DTSP10-03 | ||
|---|---|---|
| 最小可測量粒徑 | 10μm | |
| 粒度分級 | 10μm、30μm、50μm、100μm 可在11～99μm范圍內(nèi)任意設(shè)定值*3) | |
| 兼容晶圓尺寸 | 4英寸 | 2英寸*4) |
| 最大測量面積 | φ80mm | φ30mm |
| 修剪功能 | 是的 | 沒有任何 |
| 顯示切換 | 有（可單獨(dú)顯示） | |
*3) 任意分類設(shè)定的閾值是從校準(zhǔn)曲線中獲得的值，無法保證計(jì)數(shù)效率。
*4) 僅在 4 英寸區(qū)域內(nèi)保證計(jì)數(shù)效率，對于 2 英寸區(qū)域無法保證計(jì)數(shù)效率，計(jì)數(shù)效率受到限制。