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            技術文章

            應變檢測應用實例分析

            閱讀:723          發(fā)布時間:2024-5-27

            應變檢測應用實例分析


            減少鏡片的殘余應力

            眼鏡鏡片
            裝配/緊固調節(jié)

            SiC晶圓缺陷檢測


            研究智能手機外殼的樹脂成型條件

            彩色樹脂評價
            智能手機外殼

            薄膜熱熔接/異物檢查
            冰淇淋勺

            請注意,“扭曲"一詞因人而異。
            相關術語包括應力(MPa、Kg/cm2)、相位差(延遲、光程差)(nm)、雙折射(nm/cm)和表面粗糙度。

            Luceo 中的“失真"具有以下含義。
            將應力作用于玻璃內(nèi)的狀態(tài)表示為“存在應變"或“應變殘留",
            “應變"被稱為“應力"或“應力"。帶有“存在不合理情況"的含義。
              在玻璃領域,應變已經(jīng)與這種細微差別一起使用了很長時間,而在材料力學這個處理應力的一般領域中,“應變"是指由力、溫度變化等引起的原始形狀。膨脹和收縮、彎曲、扭曲等,并且應該以不同的含義使用,因此必須小心。
             以下是應力和應變的簡單定義。

            畸變有以下幾種類型:

            1. 施加外力時的變形(應變)

            將玻璃推入框架等

            2. 暫時熱沖擊引起的變形

            (加熱部分玻璃)

            3. 凝固過程中熱歷史引起的變形

            (表面急冷,內(nèi)部高溫)

            畸變檢測方法

            使用兩個偏光板來檢測應變。偏光板具有稱為偏振光透射軸的軸向。
            圖像是盲目的。
            設置偏振器使其軸平行可以實現(xiàn)更好的光傳輸。相反,如果軸設置為彼此垂直,則幾乎沒有光會通過。
            如果將樣品放置在樣品中,使這些軸彼此垂直,則來自扭曲區(qū)域的光將逸出并被檢測到。

            應變檢查的類型

            正交尼科爾法

            特點
            :簡單的結構,由一個光源和兩個偏光板組成。
            ?如果偏光板的軸與畸變軸重疊,畸變就會被隱藏。

            應變檢查的類型

            圓偏振


            將樣品放置在視野內(nèi)即可進行觀察,而不必擔心 特性或應變的軸向方向。

            應變檢查的類型

            塞納蒙法


            可以進行 特性/定量測量(數(shù)字化)。

            應變檢查的類型

            感色法

            特點
            : 可以檢測微小的變形。
            ?通過使用應變標準板,還可以進行簡單的定量測量(數(shù)字化)。


            LSM系列






            產(chǎn)品編號檢查方法定量
            測量
            測量范圍
            (納米)
            測量/觀察
            可能范圍
            (mm)
            樣品排列
            空間
            高度(mm)
            目的特征
            LSM-9002LE旋轉分析儀法0-130200×2000-160?玻璃制品的畸變檢查
            ?塑料制品的畸變檢查
            ?結晶材料的應力檢查
            ?光學薄膜的相位差測量

            新新軟件

            ?任何人都可以一鍵輕松測量
            ?二維測量型應變測試儀
            ?可以保存測量數(shù)據(jù)和畸變觀察圖像數(shù)據(jù)
            ?延遲測量范圍:0~130nm


            LSM-9002S旋轉分析儀法0-130最大:60×60
            最?。?0×10
            0-115?玻璃制品的畸變檢查
            ?塑料制品的畸變檢查
            ?結晶材料的應力檢查
            ?光學薄膜的相位差測量

            新新軟件

            ?任何人只需單擊一下即可輕松測量
            ?二維測量應變測試儀
            ?可保存測量數(shù)據(jù)和畸變觀察圖像數(shù)據(jù)
            ?延遲測量范圍:0 至 130 nm
            ?配備 6 倍光學變焦鏡頭


            LSM-9001近紅外近紅外旋轉分析儀法0-150約50毫米×50毫米0-160?Si、SiC、GaN、玻璃晶片的應變分布評價
            ?有色玻璃、丙烯酸樹脂產(chǎn)品的應變分布評價
            ?任何人都可以一鍵輕松測量
            ?二維測量型應變測試儀
            ?可在幾分鐘內(nèi)評估約 50x50mm 產(chǎn)品的表面分布
            ?可保存評估數(shù)據(jù)和畸變觀察圖像數(shù)據(jù)
            ?延遲測量范圍:0~150nm

            LSM-9100W近紅外近紅外3波長線偏振法100-5,000(估計)φ1000-160?著色樹脂制品的應變分布評價
            ?樹脂薄膜的拉伸不均檢查
            ?任何人只需點擊一下即可輕松測量
            ?二維測量型應變測試儀
            ?可在幾分鐘內(nèi)對 Φ100 mm 尺寸的產(chǎn)品進行表面分布評價
            ?可保存評價數(shù)據(jù)和應變觀察圖像數(shù)據(jù)
            ?延遲測量范圍:100~5,000nm(大約)
            - 能夠評估著色樹脂產(chǎn)品的殘余應力

            LSM-9001LE旋轉分析儀法0-130200×2000-160?玻璃制品的畸變檢查
            ?塑料制品的畸變檢查
            ?結晶材料的應力檢查
            ?光學薄膜的相位差測量
            ?任何人都可以一鍵輕松測量
            ?二維測量型應變測試儀
            ?可以保存測量數(shù)據(jù)和畸變觀察圖像數(shù)據(jù)
            ?延遲測量范圍:0~130nm
            行了一些小改動。查看
            LSM-9002系列
            LSM-9001S旋轉分析儀法0-130最大:60×60
            最?。?0×10
            0-115?玻璃制品的畸變檢查
            ?塑料制品的畸變檢查
            ?結晶材料的應力檢查
            ?光學薄膜的相位差測量
            ?任何人只需單擊一下即可輕松測量
            ?二維測量應變測試儀
            ?可保存測量數(shù)據(jù)和畸變觀察圖像數(shù)據(jù)
            ?延遲測量范圍:0 至 130 nm
            ?配備 6 倍光學變焦鏡頭
            進行了一些小改動。查看
            LSM-9002系列
            LSM-9100WRGB線偏振方式30~3,000φ1500-160?玻璃制品的畸變檢查
            ?塑料制品的畸變檢查
            ?結晶材料的應力檢查
            ?光學薄膜的相位差測量
            ?任何人一鍵即可輕松測量
            ?二維測量應變測試儀
            ?可保存測量數(shù)據(jù)和畸變觀察圖像數(shù)據(jù)
            ?延遲測量范圍:0~3,000 nm
            ?可測量塑料等較大的畸變

            LSM-9100WSRGB線偏振方式30~3,000最大:60×60
            最?。?0×10
            0-115?玻璃制品的畸變檢查
            ?塑料制品的畸變檢查
            ?結晶材料的應力檢查
            ?光學薄膜的相位差測量
            ?任何人只需單擊一下即可輕松測量
            ?二維測量型應變測試儀
            ?可以保存測量數(shù)據(jù)和應變觀察圖像數(shù)據(jù)
            ?延遲測量范圍:0 至 3000 nm
            ?可測量塑料等相對較大的變形可
            - 配備 6x光學變焦鏡頭


            *使用 Senarmont 方法測量時。


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