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            HKT-MASTER 0.01AA 是一款高精度超薄膜測厚儀

            閱讀:172          發(fā)布時(shí)間:2025-2-20

            HKT-MASTER 0.01AA 是一款高精度超薄膜測厚儀

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            HKT-MASTER 0.01AA 是一款高精度超薄膜測厚儀,專為需要測量精度的應(yīng)用場景設(shè)計(jì)。通過保持測量頭向下恒定,消除了人為操作帶來的測量誤差,確保測量結(jié)果的穩(wěn)定性和可靠性。該設(shè)備適用于超薄膜材料的測量,操作舒適且測量精度高。


            核心特點(diǎn)

            1. 高精度測量

              • 測量分辨率:0.01μm

              • 測量范圍:0~500μm

              • 精度高,適合超薄膜材料的精確測量。

            2. 恒定測量壓力

              • 測量壓力:0.14N

              • 通過恒定壓力設(shè)計(jì),確保測量頭與樣品接觸時(shí)壓力一致,避免因壓力變化導(dǎo)致的測量誤差。

            3. 特殊測量元件

              • 測量元件:R30碳化物球形表面

              • 碳化物材料具有高硬度和耐磨性,適合長時(shí)間使用,球形表面設(shè)計(jì)確保與樣品接觸時(shí)的穩(wěn)定性和精度。

            4. 消除人為誤差

              • 通過保持測量頭向下恒定,減少人為操作對測量結(jié)果的影響,確保測量的一致性和可靠性。

            5. 操作舒適

              • 設(shè)計(jì)符合人體工程學(xué),操作簡單,適合長時(shí)間使用。


            技術(shù)參數(shù)

            參數(shù)詳情
            測量分辨率0.01μm
            測量范圍0~500μm
            測量元件R30碳化物球形表面
            測量壓力0.14N
            適用材料超薄膜、金屬、塑料、玻璃等
            測量方式接觸式測量
            顯示方式數(shù)字顯示
            數(shù)據(jù)輸出支持?jǐn)?shù)據(jù)導(dǎo)出(可選)

            應(yīng)用領(lǐng)域

            1. 半導(dǎo)體行業(yè)

              • 用于測量晶圓、光刻膠等超薄膜材料。

            2. 光學(xué)薄膜

              • 適用于鏡頭、濾光片等光學(xué)元件的薄膜厚度測量。

            3. 電子行業(yè)

              • 用于顯示屏、觸摸屏等薄膜材料的厚度檢測。

            4. 材料研究

              • 適用于新材料研發(fā)中的超薄膜厚度測量。


            使用注意事項(xiàng)

            1. 校準(zhǔn)

              • 定期校準(zhǔn)設(shè)備,確保測量精度。

            2. 環(huán)境控制

              • 避免在振動(dòng)或溫度波動(dòng)較大的環(huán)境中使用,以免影響測量結(jié)果。

            3. 樣品準(zhǔn)備

              • 確保樣品表面清潔、平整,避免雜質(zhì)影響測量。

            4. 測量頭維護(hù)

              • 定期檢查測量頭(R30碳化物球形表面)的磨損情況,必要時(shí)更換。


            產(chǎn)品優(yōu)勢

            • 高精度:0.01μm的分辨率,滿足超薄膜測量需求。

            • 穩(wěn)定性:恒定測量壓力和向下恒定設(shè)計(jì),消除人為誤差。

            • 耐用性:R30碳化物測量元件,耐磨且壽命長。

            • 易用性:操作簡單,適合多種材料和場景。


            總結(jié)

            HKT-MASTER 0.01AA 是一款高性能的超薄膜測厚儀,適用于需要高精度和穩(wěn)定性的測量場景。其設(shè)計(jì)和高質(zhì)量的材料使其在半導(dǎo)體、光學(xué)、電子和材料研究等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用價(jià)值。



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