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詳細介紹
日本capind六角低接觸壓力探頭IRP40.02LF
特征
低測量壓力
對具有高精度表面光潔度的工件進行機內(nèi)測量，例如精密切割的頂面、磨光面和模具自由曲面光潔度表面正在增加。使用傳統(tǒng)探針（標準，高精度），當紅寶石球與工件接觸并輸出觸摸信號時，由于接觸壓力，工件上可能會留下微小的壓痕。
此外，軟材料也會因接觸壓力而導致塑性變形。與傳統(tǒng)產(chǎn)品相比，
40.02LF探頭將XY方向的測量壓力降低約40%，Z方向的測量壓力降低約50%。
當在機測量中擔心對工作表面的影響時，請嘗試。
特別推薦用于磨床和微細加工機。
觸摸信號輸出時的測量功率
| XY方向 | 0.5N +/- 0.2N |
|---|---|
| Z方向 | 3.0N +/- 0.3N |
測針長度 30mm
測量速度 254mm/min
進一步提高重復性最大 0.3 μm（2σ 值）
探頭詳情
低接觸壓力探頭概述
不銹鋼機身
2 節(jié)電池 1 / 2AA
電池盒采用雙重密封結(jié)構(gòu)
其他特性
Z 碰撞檢測
如果在 Z 方向超程，可能無法通過外觀識別。
如果 Z 碰撞檢測超程，LED 將通過藍色閃爍通知您。ITE 高速移動技術(shù)
ITE（智能觸發(fā)技術(shù)）準確判斷觸摸信號。
判斷是由于觸控筆在高速運動的加減速過程中的慣性還是真實的觸摸信號，并過濾完成的。
因此，跳躍進給速度最高可達 50 m/min。抗噪性
增加了檢測電噪聲和光噪聲的脈沖數(shù)量，并將檢測裕度增加到多個脈沖。
結(jié)果，我們能夠提高抗噪性。電池壽命
連續(xù)測量800小時
一次/2秒觸摸循環(huán)壽命
規(guī)格
| 可測量的方向 | +/- X, +/- Y, -Z |
|---|---|
| 最大測針超程 | XY = +/- 12.5° Z = -5mm |
| 測量功率 | XY = 0.5N +/- 0.2NZ = 3.0N +/- 0.3N * 使用 30mm 手寫筆 |
| 推薦測量速度 | 最大1000mm/分鐘 |
| 電池 | 1 / 2AA x 2 待機壽命 12 個月 |
| 最長電池壽命 | 以 800 小時為周期觸摸一次 / 2 秒 |
| 材料 | 防銹的 |
| 重量（不包括支架） | 約235g |
| 溫度規(guī)格 | 操作過程中：5°C 至 55°C 儲存：5°C 至 70°C |
| 單向重復性 | 0.3 μm（2σ值） 測 針長度：30 mm 速度：245 mm/min |
| 可測量的最大密封件數(shù) | IP68 EN60529 (15m) |
| 沖擊試驗 | 50Hz = 50 點/秒 |
| 共振測試 | 50G 7ms (5000 次) 好 |
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