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            ME-L 穆勒矩陣橢偏儀
            • ME-L 穆勒矩陣橢偏儀

            貨物所在地:湖北武漢市

            地: 武漢市東湖高新區(qū)華工科技園創(chuàng)智

            更新時間:2025-04-20 21:00:08

            瀏覽次數(shù):715

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            ( 聯(lián)系我們,請說明是在 化工儀器網 上看到的信息,謝謝?。?/p>

            ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀,凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術多年的投入,其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術,具備 1 全穆勒矩陣測量技術, 2 雙旋轉補償器同步控制技術,3 超級消色差補償器設計技術,4 納米光柵表征測量技術 等技術。可應用于各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學納米光柵常數(shù)以及一維/二維納米光柵材料結構的表征分析,代表當今橢偏行業(yè)的*技術水平。

            一、產品特點

            ■ 采用氘燈和鹵素燈復合光源,光譜覆蓋紫外到近紅外范圍 (193-2500nm);

            ■ 可實現(xiàn)穆勒矩陣數(shù)據處理,測量信息量更大,測量速度快、數(shù)據更加精準;

            1.png

            ■ 基于雙旋轉補償器配置,可一次測量獲得全穆勒矩陣的16個元素,相對傳統(tǒng)光譜橢偏儀可獲取更加豐富全面測量信息;

            穆勒.png

            ■ 頤光技術確保在寬光譜范圍內,提供優(yōu)質穩(wěn)定的各波段光譜;

            2.png

            ■ 數(shù)百種材料數(shù)據庫、多種算法模型庫,涵蓋了目前絕大部分的光電材料;

            庫.png

             

            ■ 集成對納米光柵的分析,可同時測量分析納米結構周期、線寬、線高、側壁角、粗糙度等幾何形貌信息;

            4.png

            二、技術規(guī)格

             

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