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局部放電測(cè)試系統(tǒng)試驗(yàn)回路的一般要求，敘述了幾種用于測(cè)量局部放電參量的基本試驗(yàn)回路，并介紹了這些回路和系統(tǒng)的工作原理。有關(guān)技術(shù)委員會(huì)還可以推薦用于特殊試品的特殊試驗(yàn)回路。只要可能，建議有關(guān)技術(shù)委員會(huì)用視在電荷作為被測(cè)參量，但對(duì)特殊情況也可以使用別的參量。
如果有關(guān)技術(shù)委員會(huì)未作規(guī)定，則4.2所述的任何試驗(yàn)回路以及第5章中所規(guī)定的任何測(cè)量系統(tǒng)均可使用。
試驗(yàn)回路，用于局部放電測(cè)量的大多數(shù)回路可以由圖1a)~圖1d)所示的基本回路演變而來。圖2和圖3表示這些回路的一些變化，每個(gè)回路的組成主要有：
a) 試品，通常被認(rèn)為是一個(gè)電容器Ca(參見附錄D)。
b)耦合電容器Ck(應(yīng)設(shè)計(jì)為低電感電容)，或第二個(gè)試品Cn1(類似于試品Ca)。在規(guī)定的試驗(yàn)電壓下Ck或Ca1均應(yīng)具有足夠低的局部放電水平，以便對(duì)規(guī)定的局部放電值進(jìn)行測(cè)量。如果一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)能夠區(qū)分并分別測(cè)量來自試品和耦合電容器中的局部放電，那么允許Ck或Ca1具有較高的局部放電水平。
c)帶輸人阻抗的測(cè)量系統(tǒng)(對(duì)平衡回路，還需要第二個(gè)輸入阻抗)。
d)背景噪聲足夠低的高壓電源(見第6章和第7章)，以便在規(guī)定試驗(yàn)電壓下對(duì)規(guī)定的局部放電值進(jìn)行測(cè)量。
e)背景噪聲足夠低的高壓連接(見第6章和第7章)，以便在規(guī)定試驗(yàn)電壓下對(duì)規(guī)定的局部放電值進(jìn)行測(cè)量。
f)有時(shí)在高壓端接人一個(gè)阻抗或?yàn)V波器，以減小來自供電電源的背景噪聲。
注：對(duì)于圖1~圖3所示的局部放電基本試驗(yàn)回路，其測(cè)量系統(tǒng)的耦合裝置也可放在高壓端，即耦合裝置與Ca或Ck交換位置;這時(shí)可用光纜來連接耦合裝置和測(cè)量?jī)x器，如圖1a)所示。
不同試驗(yàn)回路的其他情況及特性可參見附錄C和附錄H。
