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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
MATS-3000M硅鋼磁測量儀運用數(shù)字波形補償和數(shù)字反饋技術，可準確測量電工鋼片（帶）、坡莫合金、非晶和納米晶等軟磁材料材料在20Hz～2kHz頻率范圍內(nèi)的交流磁性參數(shù)：比總損耗Ps、磁極化強度Jm、磁場強度Hm、比視在功率Ss、振幅磁導率，以及交流磁化曲線和損耗曲線。
MATS-3000M硅鋼磁測量儀裝置主要特點：
- 采用Windows測量軟件，操作方便。
- 采用伏安法和數(shù)字積分測量動態(tài)磁滯回線，可準確測量μa、δ、Ps、Br和Hc等動態(tài)磁特性參數(shù)。
- 第三代信號源技術，初級輸出低至10mV時，仍保持較高的信噪比。
- 運用數(shù)字動態(tài)反饋處理技術，次級電壓信號測量小可達到1mVrms。
- 運用數(shù)字波形補償技術，通過數(shù)字合成、移相等數(shù)字處理技術的應用，有效保證被測樣品在接近飽和磁化狀態(tài)下時次級電壓的波形因數(shù)，測量結果更準確。
- 全頻率范圍鎖定磁場測量，初級勵磁電流小分辯率0.01mA。特別適合電流互感器磁芯等器件的交流磁化曲線測量。
- 裝置主機整體散熱風道設計，可滿足連續(xù)裝置在連續(xù)大功率條件測量環(huán)境下的可靠性。
- 裝置主機采用4.5寸854×480高分辨率IPS顯示屏，實時顯示電壓參數(shù)和波形狀態(tài)。
- 自動連續(xù)測量多達255個測試點，每個測試點的測試時間約30秒（與樣品相關），多點測試可選擇固定頻率、固定Bm或固定Hm。
- 裝置技術參數(shù)
1、工作環(huán)境
輸入電源
單相200V～240V，50Hz±10%，大10A
使用環(huán)境
環(huán)境溫度：23±5℃；環(huán)境濕度：30～75%RH
外磁場干擾
應避免
熱平衡時間
10分鐘
2、測量范圍
適用標準
GB/T 3655-2008 、GB/T 13789-2008、GB/T 3658-2008、GB/T 19346.1-2007、IEC 60404-2、IEC 60404-3、IEC 60404-6
測量材料
可測量電工鋼（硅鋼）、軟磁鐵氧體、坡莫合金、非晶/納米晶和電工純鐵等軟磁材料
樣品形狀
可采用愛潑斯坦方圈或磁導計測量片狀和條狀等開路樣品
可繞線測量環(huán)形、EE/EI型、UU/UI、矩形、CD型和雙孔等閉路樣品
測量參數(shù)
Ps、Jm、Hm、Ss，μa、δ、Br和Hc，可推算特定條件下的μ′、μ″、μL、μR、Q和AL等參數(shù)。
3、裝置參數(shù)
型號
參數(shù)
MATS-3000M/k50A
MATS-3000M/k50B
MATS-3000M/k50C
大輸出功率
500VA正弦波（20Hz-40Hz：150VA;40Hz-1KHz：500VA;1KHz-2K Hz為350VA）
頻率范圍
20Hz～2k
40Hz～1.2k
40Hz～1k
頻率細度
1Hz
輸出電壓
0～1V～10V～50V～150V 四檔自動量程
大輸出電流
0～10A
電流采樣
6.33mA～20A，八檔自動量程
電壓采樣
1V～316V，六檔自動量程
測量模式
鎖B
有
有
有
鎖H
有
有
無
波形補償
有
無
無
諧波測試
有
無
無
保護功能
過熱、過流、過壓和參數(shù)保護
數(shù)據(jù)采集卡
采樣速率：40MHz×2通道;分辨率和線性度：12Bit±1/2LSB
工控計算機
研華IPC-510或研祥IPC-810
操作系統(tǒng)
Windows XP或Windows 7
打印機
黑白激光打印機
4、系統(tǒng)參數(shù)
4.1、依據(jù)國標GB/T 3655-2000，在50Hz、60Hz頻率下，使用25cm愛潑斯坦方圈測量30×300的硅鋼標樣，技術指標如下：
被測參數(shù)
Ps(%)
Ss(%)
Hrms(%)
Bm(%)
Hm(%)
不確定度(k=2)
1
1
2
1
2
重復性(恒溫)
± 0.5
± 0.5
± 1
± 0.5
± 1
備注
鎖B測試：無取向片Bm≤1.5T
取向片Bm≤1.7T
鎖H測試：無取向片Hm≥1000A/m
取向片Hm≥500A/m
4.2、依據(jù)國標GB/T 13789-2008，在50Hz、60Hz頻率下，使用SST-500單片磁導計測量500×500的硅鋼標樣，技術指標如下：
被測參數(shù)
Ps(%)
Ss(%)
Hrms(%)
Bm(%)
Hm(%)
不確定度(k=2)
1.5
1.5
2
1
3
重復性(恒溫)
± 0.5
± 0.5
± 1
± 0.5
± 1
備注
鎖B測試：無取向片Bm=0.8～1.5T
取向片Bm=1.0～1.8T鎖H測試：無取向片Hm≤10000A/m取向片Hm≤1000A/m
4.3、依據(jù)國標GB/T 3658-2008，在20Hz～2kHz頻率下，測量坡莫合金環(huán)形試樣，技術指標如下：
被測參數(shù)
Ps(%)
μa(%)
δ(%)
Bm(%)
Hm(%)
不確定度(k=2)
3
2
-
1
1
重復性(恒溫)
± 1.5
± 1
± 1
± 0.5
± 0.5
備注
1、試樣應為薄壁環(huán)，外徑/內(nèi)徑≤1.25。
2、測試前應先退磁，退磁場頻率≤測試頻率。
3、不確定度為“-”，表示國標中不要求。4.4、依據(jù)國標GB/T 19346.1-2007，測量非晶環(huán)形試樣，技術指標如下：
被測參數(shù)
Ps(%)
Ss(%)
μa(%)
δ(%)
Bm(%)
Hm(%)
不確定度(k=2)
5
5
3
-
1
2
重復性(恒溫)
± 3
± 2.5
± 2
± 2
± 0.5
± 1
備注
㈠.試樣應為薄壁環(huán)，外徑/內(nèi)徑≤1.5。
㈡.鎖B測試，且Bm=100mT～200mT；測試前應先退磁，退磁場頻率≤測試頻率。
㈢.不確定度為“-”，表示國標中不要求。
軟件功能
⑴、操作系統(tǒng)：支持WindowsXP和Windows7（32位）操作系統(tǒng)。
⑵、系統(tǒng)語言：可提供中文或英文操作界面。
⑶、測量模式：支持固定頻率、固定Bm或固定Hm等多種測量模式；可自動連續(xù)測量，多支持255個測試點。
⑷、采樣波形：實時顯示I(t)、U(t)、B(t)采樣波形，可顯示曲線上每一個數(shù)據(jù)點的坐標信息。
⑸、樣品規(guī)格：支持環(huán)形、EE、EI、CD、矩形、雙孔、BS和其它等各種形狀樣品參數(shù)的輸入。
⑹、文件管理：有保存數(shù)據(jù)，刪除數(shù)據(jù)，清除全部數(shù)據(jù)等功能。
⑺、數(shù)據(jù)文件：包含采樣數(shù)據(jù)、樣品參數(shù)、儀器參數(shù)和測試方案，文件采用文本格式，可使用記事本、
word或Excel表格打開。
⑻、數(shù)據(jù)導出：測試數(shù)據(jù)可直接輸出到Excel表格、word文檔或JPG圖片。
⑼、曲線顯示：可顯示B(H)磁滯回線；進行多點組簇后，可顯示B(H)磁滯回線簇、B(H)磁化曲線、μa(H)磁導率曲線和Ps(B)損耗曲線，可顯示曲線上每一個數(shù)據(jù)點的坐標信息；可將不同條件下測得的B(H)磁化曲線和Ps(B)損耗曲線組合到一張圖紙上，以便進行對比分析。
⑽、合格判定：按μa、Ps、Bm、Br、Hc和Hm等參數(shù)設定上下限，對測試結果進行合格判定，通過數(shù)據(jù)表格的顏色來確定。
⑾、測試報告：包含完整的曲線圖、測試結果、測試條件和樣品參數(shù)；可打印、預覽、保存JPG圖形、發(fā)送JPG圖片文件；可在測試報告上添加用戶標志和企業(yè)名稱。
⑿、單位制式：有多種單位制式可選，以保證不同用戶各自的使用習慣。