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            美國麥克儀器將在大連理工大學(xué)舉辦技術(shù)講座

            閱讀:1578      發(fā)布時(shí)間:2012-11-23
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              比表面和孔隙度是確定材料質(zhì)量和用途的兩個(gè)重要物理性質(zhì),需要嚴(yán)格控制才能實(shí)現(xiàn)材料的特殊功能。即使對于相同粒度的粉體材料,也會由于材料內(nèi)部顆粒比表面和孔隙度的差異,極大的影響材料的性能特點(diǎn)。化學(xué)吸附分析技術(shù)可以提供很多必要的信息(如金屬分散度、活性金屬表面積、活性顆粒尺寸和催化材料表面活性),以評價(jià)正在開發(fā)和生產(chǎn)的催化材料。粒度與穩(wěn)定性是決定膠體性質(zhì)的兩個(gè)參數(shù),膠體的穩(wěn)定性又與Zeta電位密切相關(guān),在研究和生產(chǎn)過程中,我們需要測定Zeta電位來確定膠體的分散情況從而確定產(chǎn)品的性能。
              
              作為材料表征公司,我們一直致力于研發(fā)材料表征的方法與技術(shù),為廣大用戶提供更、更廣泛應(yīng)用的測試技術(shù)。為了和大家分享我們的研究成果,美國麥克儀器公司準(zhǔn)備在12月4日在大連理工大學(xué)舉辦題為“粉體與納米顆粒表面表征技術(shù)”的技術(shù)講座,我們誠邀您前來共同探討、交流本行業(yè)的發(fā)展趨勢。
              
              研討會時(shí)間:12月4日
              
              地點(diǎn):大連理工大學(xué)化工實(shí)驗(yàn)樓C117室
              
              地址:遼寧省大連市甘井子區(qū)凌工路2號
              
              主講人:麥克默瑞提克(上海)儀器有限公司總許人良博士、應(yīng)用部鐘華博士
              
              會務(wù):郭銳
              
             ?。?807
              
              技術(shù)講座基本內(nèi)容:
              
              1)納米粒度測量與Zeta電位表征
              
              2)顆粒及粉末的氣體吸附表征技術(shù):
              
              氣體物理吸附和化學(xué)吸附理論
              
              物理吸附分析條件及數(shù)據(jù)的處理:
              
              如何確定合適的分析條件,
              
              如何對數(shù)據(jù)進(jìn)行處理
              
              許人良博士簡介:
              
              許人良博士現(xiàn)任麥克默瑞提克(上海)儀器有限公司總。從事顆粒特性研究和檢測技術(shù)30多年,是該領(lǐng)域資深專家。他于1987年和1988年在美國theStateUniversityofNewYorkatStonyBrook獲得碩士和博士學(xué)位。2002年獲得美國NovaSoutheasternUniversity的MBA學(xué)位。
              
              他發(fā)表了基礎(chǔ)理論研究和應(yīng)用領(lǐng)域的科技文章100余篇;獲得2項(xiàng)美國;研究成果在科學(xué)檢索引用超過1500多次;在美國各大學(xué)和世界各地進(jìn)行過學(xué)術(shù)講座100多次;并著有顆粒表征中的著作《ParticleCharacterization:LightScatteringMethods》?,F(xiàn)在擔(dān)任5個(gè)專業(yè)期刊(Macromolecules,Langmuir,J.Coll.Inter.Sci.,等期刊)的評委;ISO,ASTM,IABofPERC的委員會成員;多項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)的起草者;被列為美國和世界名人榜。許人良博士經(jīng)?;钴S在中國國內(nèi)學(xué)術(shù)領(lǐng)域,在多所大學(xué)進(jìn)行科技講座?,F(xiàn)任上海華東理工大學(xué)名譽(yù)教授,上海師范大學(xué)名譽(yù)教授,沈陽科學(xué)技術(shù)學(xué)會特邀外國專家。他是美國標(biāo)準(zhǔn)化委員會專家組組長、粉體檢測與控制聯(lián)合會理事、中國顆粒學(xué)會顆粒測試專業(yè)委員會理事、美國ASTM顆粒表征分委成員、美國化學(xué)學(xué)會(ACS)會員、美國物理學(xué)會(APS)會員、美國化學(xué)工程師學(xué)會(AIChE)會員、美國檢測和材料學(xué)會(ASTM)會員。
              
              他曾獲得的榮譽(yù)和獎(jiǎng)勵(lì)有:美國榮譽(yù)協(xié)會SigmaBetaDelta獎(jiǎng);ACertificateofAppreciationbyMayorofMetropolitanDadeCounty,FL;ThePostdoctoralFellowshipawardedbyNationalScienceEngineeringResearchCouncilofCanada;ACertificatefortheSherwin-WilliamsAwardbyAmericanChemicalSociety;TheWorldBankFellowshipbytheUnitedNation等。

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