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            目錄:麥克默瑞提克(上海)儀器有限公司>>物理吸附>>比表面及孔隙度儀>> TriStar II Plus藥用輔料比表面積檢測(cè)

            藥用輔料比表面積檢測(cè)
            • 藥用輔料比表面積檢測(cè)
            • 藥用輔料比表面積檢測(cè)
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 品牌
            • 型號(hào) TriStar II Plus
            • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
            • 所在地 上海市
            屬性

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            >

            更新時(shí)間:2024-07-11 13:41:17瀏覽次數(shù):925評(píng)價(jià)

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            儀器種類 比表面及孔徑分析儀 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工,石油
            TriStar II Plus藥用輔料比表面積檢測(cè)

            比表面積和孔隙度是影響材料質(zhì)量和用途的兩個(gè)重要物理性質(zhì),因此準(zhǔn)確測(cè)量以及控制這些參數(shù)非常重要。此外,這兩個(gè)性質(zhì)對(duì)材料研究也非常重要,它是了解天然材料形成、結(jié)構(gòu)、潛在應(yīng)用的非常關(guān)鍵參數(shù)。

            TriStar II Plus藥用輔料比表面積檢測(cè)

            多用途/多通道/占地面積小

            TriStar II Plus藥用輔料比表面積檢測(cè)是全自動(dòng)化且含三個(gè)分析站的比表面積和孔隙度分析儀,具有出色的性能和分析速度。TriStar II Plus藥用輔料比表面積檢測(cè)為用戶提供高通量和高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。*的耐腐蝕的不銹鋼歧管,可確保結(jié)果可靠且可重復(fù)。

            硬件和軟件特點(diǎn)

            · *的耐腐蝕的不銹鋼歧管,設(shè)計(jì)用于高精度的氣體管理

            · 改進(jìn)的杜瓦瓶設(shè)計(jì),提供超出40h的連續(xù)溫度控制

            · 直觀的MicroActive軟件使用戶能夠用交互方式分析等溫線數(shù)據(jù),更快地獲得比表面與孔徑數(shù)據(jù)

            · 用戶自定義報(bào)告選項(xiàng)允許直接建模

            · 強(qiáng)大的Python腳本語(yǔ)言,允許用戶開(kāi)發(fā)TriStar II Plus軟件標(biāo)準(zhǔn)報(bào)告庫(kù)擴(kuò)展程序

            · 創(chuàng)新的儀器顯示屏,方便的儀器性能指標(biāo)和維護(hù)信息實(shí)時(shí)顯示功能

            · 能夠在碳微孔分析中同時(shí)利用CO2與N2兩個(gè)等溫線通過(guò)NLDFT理論來(lái)計(jì)算全范圍孔徑

            數(shù)據(jù)處理的優(yōu)勢(shì)

             

            l 直接處理吸附數(shù)據(jù)。通過(guò)簡(jiǎn)單的移動(dòng)計(jì)算條,用戶立即更新文本屬性。一鍵式訪問(wèn)重要的參數(shù),讓用戶專注于結(jié)果,而不是參數(shù)

            l 交互式數(shù)據(jù)處理大限度地減少使用對(duì)話框和達(dá)到計(jì)算參數(shù)的路徑。這使用戶準(zhǔn)確和有效地確定材料的比表面積和孔隙度

            l 更強(qiáng)的能包含壓汞數(shù)據(jù)的文件添加疊加刪除功能(多25個(gè))

            l 用戶可選數(shù)據(jù)范圍,通過(guò)圖形化界面允許直接建BET、 t-plot,Langmuir、 DFT理論等模型

            l 報(bào)告選項(xiàng)編輯,允許用戶自定義多達(dá)五份報(bào)告,可在屏幕上預(yù)覽

            l 每個(gè)報(bào)表都有總結(jié)、表格和圖形信息項(xiàng)

            低比表面積測(cè)量選項(xiàng)

            氪氣選件可以將比表面積測(cè)量范圍擴(kuò)展至0.001m2/g。

            TriStar II Plus藥用輔料比表面積檢測(cè)表格和圖表報(bào)告:

            l 單點(diǎn)或多點(diǎn)BET 比表面積

            l 總孔體積

            l Langmuir 比表面和等溫線

            l t-Plot

            l Harkins和Jura厚度層公式

            l Halsey厚度層公式

            l 碳黑STSA

            l Broekhoff-de Boer

            l Kruk-Jaroniec-Sayari

            l BJH 吸附/脫附曲線

            l 標(biāo)準(zhǔn)

            l Kruk-Jaroniec-Sayari校正

            l Dollimore-Heal吸附/脫附曲線

            l 中孔

            l 孔體積和面積分布

            l MP-方法

            l HK

            l Saito-Foley

            l Chang-Yang

            l DFT孔徑

            l DFT表面能

            l 總結(jié)報(bào)告

            l SPC報(bào)告

            l 確認(rèn)報(bào)告

             

             

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