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            HDDL電纜故障測(cè)試儀(閃測(cè)儀)沖擊高壓閃測(cè)法說明

            閱讀:541        發(fā)布時(shí)間:2021-3-30

            3、沖擊高壓閃測(cè)法(沖閃法)

            3.1沖閃法基本原理

            沖閃法適用于測(cè)試高阻泄漏性故障,對(duì)其他類型高低阻故障也可用沖閃法測(cè)試。測(cè)試方法是通過球間隙給電纜施加沖擊電壓,使故障點(diǎn)擊穿放電,而產(chǎn)生反射電壓(或者電流),由儀器記錄這一瞬間狀態(tài)的過程,通過波形分析來測(cè)定故障點(diǎn)的位置。它是測(cè)高阻及閃絡(luò)性故障的主要方法。同樣取樣方式也分電壓取樣和電流取樣,當(dāng)然細(xì)分還可分為和低端電壓取樣,電感與電阻取樣,始端與終端取樣等。由于低端電流取樣接線簡(jiǎn)便、可靠安全、波形易于識(shí)別,所以電流取樣法非常具有實(shí)用價(jià)值。

            3.2電流取樣沖閃法

            沖閃法操作方法如下:開機(jī)(上電復(fù)位)→復(fù)位(主菜單)→鍵1(工作選擇菜單)→鍵3(沖閃1).根據(jù)工作選擇菜單提示,沖閃分為:沖閃1和沖閃兩種方式。其中沖閃1是正脈沖觸發(fā)方式(如電流取樣),沖閃2是負(fù)脈沖觸發(fā)方式(如電壓取樣)。按推薦選用電流取樣方式,所以按鍵3進(jìn)入沖閃1工作模式。

            進(jìn)入沖閃后,按屏幕提示接線圖連接接線和取樣器如圖13所示。

            圖13 沖閃法電流取樣接線圖

            圖13示意說明:T1.3kVA/0.22kV調(diào)壓器

              T2.3kVA/50kV交直流高壓變壓器

                           D.高壓整流硅堆,大于150kV/0.2A                                     

                           C.高壓脈沖電容,容量1~8μF,耐壓大于10kV

                           V.電壓表

                           B.電流采樣盒(配套附件)

                           J.高壓球隙(選配附件)

            以上設(shè)備除電流取樣器B之外,其余為外配設(shè)備,可

             

            用圖13分體高壓試驗(yàn)設(shè)備,也可用一體化高壓電源(注意必須將高壓放與高壓地線連接好方可試驗(yàn))。

                根據(jù)接線圖連接完畢后,再按“速度”鍵選擇傳輸速度或重新鍵入速度值。將增益調(diào)節(jié)旋鈕旋至1/3左右,然后按“采樣”鍵,儀器進(jìn)入等待采樣狀態(tài)。 

                調(diào)整球隙和“增益”旋鈕后,然后通電對(duì)故障電纜升壓。電壓升到一定值,故障點(diǎn)發(fā)生閃絡(luò)放電,儀器記錄下波形,根據(jù)波形大小可重新調(diào)整輸入振幅,重復(fù)采樣,沖閃測(cè)試波形如圖14所示:

            波形特點(diǎn)分析如下:個(gè)小正脈沖為球間隙擊穿而故障點(diǎn)沒有放電時(shí)電容器對(duì)電纜放電的電流脈沖(輸入幅度小或者儀器的靈敏度低時(shí)個(gè)小脈沖可能不出現(xiàn))第二個(gè)大的正脈沖為故障點(diǎn)擊穿之后形成的短路電流脈沖,其次為由該放電電流脈沖形成的一次、二次等多次反射電流脈沖,由于衰減而幅度逐漸減小。由于故障特性的差異和電容電壓與引線電感的存在而在反射正脈沖的前沿出現(xiàn)負(fù)反沖,計(jì)算故障距離時(shí)起點(diǎn)為個(gè)放電正脈沖的前沿,終點(diǎn)為次反射正脈沖之前的負(fù)脈沖前沿。(發(fā)射脈沖為正脈沖,反射脈沖也為正脈沖但前沿有負(fù)反沖。因故障性質(zhì)等原因,負(fù)反沖大小有差別,但遠(yuǎn)小于正脈沖的幅值)

                定光標(biāo)時(shí),起點(diǎn)光標(biāo)選擇在正脈沖上升沿與基線交點(diǎn)處,終點(diǎn)光標(biāo)選擇在負(fù)反沖下降沿與基線交點(diǎn)處。如無負(fù)脈沖出現(xiàn),就將終點(diǎn)光標(biāo)定在反射脈沖的上升沿與基線的交點(diǎn)處,故障顯示距離因此將增大10%左右。定點(diǎn)時(shí),應(yīng)將粗測(cè)距離壓縮后確定參考點(diǎn)位置。

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