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C-Quand在線X射線熒光元素分析儀基于成熟的元素分析技術-EDXRF技術，也即能量色散X射線熒光技術。該技術測量樣品中原子產生的特征X射線光譜，更重要的是，這種測量方法在整個測量過程中是連續(xù)的，而不是只對起始時間進行瞬間測量。
不間斷在線測量提供及時信息，讓您可以輕松實現(xiàn)過程控制并優(yōu)化過程控制。C-Quand是為工業(yè)過程控制的特殊需求而設計的，它為針對產品環(huán)境的嚴謹系統(tǒng)提供快捷可靠的化學分析，C-Quand加上特殊應用模塊可滿足各種工業(yè)現(xiàn)場的嚴格要求。
技術特點：
使用EDXRF技術，C-Quand可測量從硅（原子數(shù)14）到鈾（原子數(shù)92）之間的任何元素，濃度范圍從ppm到%，測量的濃度范圍和精度根據(jù)具體應用而定。
長期測量的穩(wěn)定性，通過內標消除檢測器和電子漂移
直接測量，無需高溫轉換
樣品池和第二個保護窗保護檢測器免受樣品污染
配置檢漏儀，如果遇到檢測窗破裂，可切斷安全閥門
檢測源是一個X射線管，意味著切換電源時，將停止輻射
可選加熱測量池，可將粘度高達100cSt的高粘度樣品加熱至80℃
寬測量范圍，從ppm到%水平均可保證測量結果的準確性
測量過程不受樣品密度和C/H比變化的影響
配合高敏感度、低噪聲的硅漂移探測器
連續(xù)JQ無損測量，保證工藝不受干擾
日常維護簡單，定期清理測量池即可，測量池可拆卸，方便清潔
可選擇的信號輸出模式，4-20mA信號，MODBUS TCP/IP或RS485
每臺儀器多可測15種元素，測量的兼容性好
自動校正漂移，確保測量準確性
應用領域
XRF法是分析石油產品種總硫含量合適的方法，相比通過流動注射或轉化法測二氧化硫和硫化氫得到硫含量的技術方法相比，當檢測樣品的沸點超過450℃時，不再適合總硫分析，應用行業(yè)包括：
石油精煉工業(yè)： 燃油和原油中總硫的測定、煉油催化劑中雜質和微量金屬測定
化學工業(yè)： 石化工藝中催化劑的測定
電鍍工業(yè)： 測定電鍍槽中的金屬元素
污水處理： 測定污水中的痕量金屬元素
地質學： 稀土中元素分析、玉石元素成分分析
C-Quand在線X射線熒光元素分析儀技術參數(shù)
分析 | |
測量原理 | X射線能量色散技術 輻射源： X射線管，可定制特殊應用探頭 |
元素范圍 | 硅(Si) 到鈾(U) (原子序數(shù)從14 到 92) |
測量范圍 | 濃度等級從 0.5 ppm 到% 等級 (特殊應用) |
元素種類 | 每臺儀器多可測量15種元素 |
精度 | 取決于具體應用，從 ppm 到 % 等級 穩(wěn) 定性：通常優(yōu)于 0.5%(漂移自動修正) |
標樣校準 | 在測量范圍內使用標準的校正方法。簡單的實驗室樣品校正和實驗室采集 選項。為了得到更高的靈敏度，在測量輕元素 (Si, P, S, K, Ca, Cl)的時候， 建 議使用氮氣(N2)進行吹掃。 |
中央處理和控制單元 | |
工業(yè)計算機 | Windows嵌入式操作系統(tǒng)。 15" TFT LCD 液晶彩屏。完整的ASCII 鍵盤 。 多個屏幕(可選) |
模擬輸出 | 獨立的4–20 mA模擬輸出 |
通訊 | RS485 或 TCP/IP 的網(wǎng)絡通訊協(xié)議(MODBUS) |
環(huán)境溫度 | 5-40°C |
測量頭 | |
X射線探頭 | 硅漂移探測器，分辨率135eV，低噪聲 |
高壓電源 | 0-50kV |
測量源 | 15W X光射線管，銀制電極 |
采樣窗口 | Be鈹 |
穩(wěn)定性 | 自動偏移校正，自動反向散射峰校正，自動環(huán)境壓力校正 |
現(xiàn)場使用條件要求 | |
電源 | 110-230VAC， 50/60 Hz |
功耗 | 100VA （高溫測量池150VA） |
儀表風 | 對于Exp型版本以及標配氣動閥（可選電動閥）需要<2L/min的儀表風 |
樣品分析要求 | |
樣品流速 | 0.2-0.5 L/min |
樣品池溫度 | 大可達80°C |
樣品池壓力 | 標準大氣壓 |
粘度 | <100 cSt (采樣室溫度為80°C) |
污染物 | >10微米需濾除，消除自由水 |
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