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| 供貨周期 | 一個(gè)月 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,能源 |
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符合 IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)
執(zhí)行以下測(cè)試：
掃描路徑完整性測(cè)試
連接測(cè)試
上電短路
互連測(cè)試
總線測(cè)試
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
湖南艾克賽普科技有限公司是一家專(zhuān)注于儀器工控設(shè)備、測(cè)試方案系統(tǒng)集成的高新技術(shù)科技企業(yè)。作為專(zhuān)業(yè)的儀器設(shè)備及測(cè)控集成ATE提供商，多年來(lái)堅(jiān)持自主研發(fā)創(chuàng)新，結(jié)合引進(jìn)代理各大的優(yōu)質(zhì)儀器設(shè)備，致力于提供更科學(xué)智能的軟硬件測(cè)試方案，廣泛應(yīng)用于科研行業(yè)、生命科學(xué)、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、化工、材料、環(huán)境、地質(zhì)、能源、藥物、刑事偵查和其他相關(guān)領(lǐng)域。
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是德keysight IEEE 1149.1 邊界掃描方案-IEEE 1149.1 InterconnectPlus
主要特性與技術(shù)指標(biāo)
- 符合 IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)
- 執(zhí)行以下測(cè)試：
掃描路徑完整性測(cè)試
連接測(cè)試
上電短路
互連測(cè)試
總線測(cè)試
描述
IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)在 1990 年獲得電氣電子工程師協(xié)會(huì)（IEEE）批準(zhǔn)，使您無(wú)需了解器件的核心邏輯功能便可對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試。這主要是通過(guò)將一連串寄存器串聯(lián)使用而實(shí)現(xiàn)，每個(gè)寄存器都與器件的一個(gè)引腳相關(guān)聯(lián)。這個(gè)邊界寄存器位于器件的核心邏輯單元和通向器件封裝外部的引腳之間。邊界寄存器的這些特性由 TAP 控制器控制，而整個(gè)體系結(jié)構(gòu)全部是在器件中的芯片內(nèi)部實(shí)現(xiàn)的。（圖 1）
通過(guò)連接兩個(gè)或兩個(gè)以上有邊界掃描功能的器件（圖 2），可形成一個(gè)互連節(jié)點(diǎn)。在制造業(yè)中，測(cè)試主要用于發(fā)現(xiàn)短路和開(kāi)路缺陷，而且這是通過(guò)測(cè)試 IC 間互連節(jié)點(diǎn)比特的特定順序來(lái)實(shí)現(xiàn)的。利用特殊的輸入模式的類(lèi)型（一種特定模式），通過(guò)對(duì)相應(yīng)輸出的判別，可以確定缺陷的種類(lèi)和位置。
邊界寄存器可以驅(qū)動(dòng)和接收信號(hào)，因此無(wú)需互連節(jié)點(diǎn)的物理測(cè)試接入。
在 Keysight ICT 系統(tǒng)中實(shí)施 IEEE 1149.1 意味著能夠根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)執(zhí)行測(cè)試。更大的好處是非邊界掃描節(jié)點(diǎn)可與邊界掃描節(jié)點(diǎn)串聯(lián)在一起進(jìn)行測(cè)試，從而提高測(cè)試覆蓋范圍。由于這個(gè)“在 ICT 本地”的實(shí)施，可以為用戶提供更高效的解決方案。
是德keysight IEEE 1149.1 邊界掃描方案-IEEE 1149.1 InterconnectPlus