現(xiàn)貨ENA射頻網(wǎng)絡分析儀300kHz至3G使用手冊
現(xiàn)貨ENA射頻網(wǎng)絡分析儀300kHz至3G使用手冊
E5070B

E5070B Agilent E5070B網(wǎng)絡分析儀
Agilent E5070B網(wǎng)絡分析儀提供了快、的射頻器件測量能力。其*的體系結(jié)構(gòu)通過減少掃描次數(shù)來完成多端口測量，進一步提高了測試吞吐率。 
300 kHz 至 3GHz 
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值） 
掃描速度：9.6微秒/點 
跡線噪聲：0.001 dB rms 
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力 
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換 
用于變頻設備的頻率偏置模式 
內(nèi)置Visual Basic ® for Applications（VBA） 
測量向?qū)е周浖?/span>
主要技術指標
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic ? for Applications（VBA）
測量向?qū)е周浖?/span>
要技術指標
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic for Applications（VBA）
測量向?qū)е周浖?/span>
要技術指標
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic ? for Applications（VBA）
測量向?qū)е周浖?/span>
 

安捷倫 E5070B ENA 射頻網(wǎng)絡分析儀，300 kHz 至 3GHz
主要特性與技術指標

            在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）

• 掃描速度：9.6微秒/點
• 跡線噪聲：0.001 dB rms
• 集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力
• 夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
• 用于變頻設備的頻率偏置模式
• 內(nèi)置Visual Basic ® for Applications（VBA）
• 測量向?qū)е周浖?/li>

描述

安捷倫 E5070B網(wǎng)絡分析儀提供了確的射頻器件測量能力。其良好的體系結(jié)構(gòu)通過減少掃描次數(shù)來完成多端口測量，進一步提高了測試吞吐率。