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山東泉科瑞達(dá)儀器設(shè)備有限公司
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薄膜測(cè)厚是許多工藝領(lǐng)域中非常重要的質(zhì)量控制指標(biāo)之一。在制造過(guò)程中,需要對(duì)薄膜材料的厚度進(jìn)行精確測(cè)量,以確保產(chǎn)品質(zhì)量的一致性和可靠性。
其中,機(jī)械接觸式薄膜測(cè)厚儀是一種常見(jiàn)的薄膜厚度測(cè)量方法。它通過(guò)物理接觸的方式,直接測(cè)量薄膜表面與參考基準(zhǔn)面之間的距離,從而獲得薄膜的厚度值。這種方法具有測(cè)量精度高、操作簡(jiǎn)單等優(yōu)點(diǎn),廣泛應(yīng)用于各類薄膜材料的厚度檢測(cè)。
下面我們來(lái)具體了解一下機(jī)械接觸式薄膜測(cè)厚儀的工作原理和使用方法:
測(cè)量原理
機(jī)械接觸式測(cè)厚儀主要包括以下幾個(gè)核心部件:探針、變位傳感器和顯示/記錄單元。探針與薄膜表面接觸,當(dāng)探針移動(dòng)時(shí),變位傳感器會(huì)檢測(cè)探針位移的變化,并將其轉(zhuǎn)換為電信號(hào)輸出。這些電信號(hào)被顯示/記錄單元處理,最終轉(zhuǎn)換為薄膜厚度數(shù)值。
測(cè)量步驟
使用機(jī)械接觸式測(cè)厚儀進(jìn)行薄膜厚度測(cè)量時(shí),主要步驟如下:
(1) 將待測(cè)薄膜樣品放置在儀器的測(cè)量平臺(tái)上,確保薄膜表面平整。
(2) 調(diào)節(jié)探針,使其輕輕接觸薄膜表面。
(3) 啟動(dòng)測(cè)量程序,儀器會(huì)自動(dòng)記錄探針位移并計(jì)算出薄膜厚度值。
(4) 根據(jù)需要,可在同一樣品上進(jìn)行多次測(cè)量,并記錄平均值作為最終結(jié)果。注意事項(xiàng)
使用機(jī)械接觸式測(cè)厚儀時(shí),需要注意以下幾點(diǎn):
(1) 樣品表面不能有明顯的劃痕、凹凸等缺陷,以免影響探針接觸和測(cè)量精度。
(2) 探針壓力不能過(guò)大,以免對(duì)薄膜造成破壞。
(3) 測(cè)量過(guò)程中要注意探針的移動(dòng)軌跡,避免撞擊樣品邊緣。
(4) 定期校準(zhǔn)儀器,確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
總之,機(jī)械接觸式薄膜測(cè)厚儀憑借其優(yōu)異的測(cè)量性能和操作便捷性,在各種薄膜材料厚度檢測(cè)中發(fā)揮著重要作用。只要掌握好儀器的使用方法,并注意一些操作細(xì)節(jié),就能得到可靠的測(cè)量結(jié)果。
