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ANALECT_DiamondMX 過程分析儀

堅固，可靠，臺式或機架安裝FTIR/FT-NIR過程分析儀

ANALECT_DiamondMX 過程分析儀通過一臺儀器同時實時監(jiān)測多個點位的液體或固體的物理性質(zhì)和化學(xué)成分 , 臺式或機架安裝選項 ,多功能在線與現(xiàn)場過程監(jiān)控和最終產(chǎn)品檢驗。

SpectraRTS提供靈活的系統(tǒng)設(shè)置和控制，廣泛的診斷，易于使用的腳本和強大的DCS通信。交互式通信允許在改變混合類型時自動切換模型集，從而大限度地提高混合測量效率。

分析儀的性能

•干涉儀十字型密封模塊與折射掃描設(shè)計；帶固定角立方鏡 的精密交叉滾子軸承。

•光譜范圍: 擴展中紅外7,400至450 cm-1;近紅外12000

到1200 cm-1.

•分 辨 率: 1.5 cm-1 (非變跡); 2 cm-1 (變跡).

•掃描速度: 自動優(yōu)化的探測器類型或軟件可選擇的特定應(yīng)用。自適應(yīng)數(shù)字伺服驅(qū)動器采用激光正交法作為正位參考。

•切趾函數(shù): 標準功能可選擇14個鍵位。

•紅外源: 內(nèi)部，風(fēng)冷，高效率反射球。

•信號轉(zhuǎn)換: 計算器模塊可選增益，高通和低通濾波器，以及延遲補償。高精度，24位 Sigma Delta ADC.

•采樣光模塊: 內(nèi)部聚焦光束，外部準直光束。

•光標讀書: 連續(xù)，橫坐標單位為cm-1或納米，%T或吸光度單位。

•檢測器: 標準熱釋電 DTGS。