為了使用SRM 1729 錫合金 和基于合金屑溶解的測試方法，建議使用機器工具將SRM的芯片從原始表面或從當(dāng)前表面移除至少2mm，條件是總深度不超過10 mm。根據(jù)需要從磁盤上取出，不要為以后使用大量的芯片。用戶經(jīng)驗表明，0.25g的取樣量足以滿足單個試件的要求。

SRM 1729 錫合金 不被認證用于測量表面最外層10μm左右的測量技術(shù)。此語句指的是磁盤的當(dāng)前表面，而不是購買時的原始表面。特別是用能量色散X射線光譜法(SEM-EDS)或X射線熒光光譜法(SEM-EDS)和測量Pb M-鋸齒發(fā)射光譜線進行測量，其結(jié)果并不代表SRM l 729的體積組分。在NIST和合作實驗室中，用變X射線起飛角的SEM-EDS或XRF進行了測量，結(jié)果表明，SEM-EDS結(jié)果反映了合金表面Pb和Zn的富集情況。已知Pb和Zn向Sn合金表面擴散，直到達到相對于體積質(zhì)量分數(shù)[3，4]富集Pb和Zn的平衡為止。

錫合金（97Sn - 3Pb）（盤形）

發(fā)行單位：圓盤
單位描述：一個單元由一個直徑約 39 毫米、厚 15 毫米的圓盤組成，經(jīng)過認證，其原始測試表面深度為 10 毫米。

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