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SRM 2034氧化鈥溶液波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品(NIST)用于驗(yàn)證和校準(zhǔn)標(biāo)稱光譜帶寬不超過(guò) 3 nm 的紫外和可見(jiàn)吸收分光光度計(jì)的波長(zhǎng)范圍。

SRM2035b紫外可見(jiàn)光近紅外波長(zhǎng)波數(shù)標(biāo)準(zhǔn)品用于驗(yàn)證和校準(zhǔn)在透射模式下運(yùn)行的紫外可見(jiàn) (UV-Vis) 和近紅外 (NIR) 光譜儀的波數(shù)/波長(zhǎng)范圍

SRM2036近紅外波長(zhǎng)/波數(shù)反射標(biāo)準(zhǔn)品(NIST)旨在驗(yàn)證和校準(zhǔn)在漫反射模式下運(yùn)行的波長(zhǎng) (λ) 和波數(shù) (ν) 尺度近紅外 (NIR) 光譜儀。

SRM2061顯微分析用TiAl合金標(biāo)準(zhǔn)品(NIST)用于對(duì)航空部件和具有類似基質(zhì)的材料中的鈦 (Ti) 和鋁 (Al) 進(jìn)行微量分析。

SRM 2066 K-411玻璃微球標(biāo)準(zhǔn)品(NIST)旨在用作顆粒定量微量分析和開(kāi)發(fā)顆?；|(zhì)校正程序的標(biāo)準(zhǔn)。

SRM 2074 正弦粗糙度試樣標(biāo)準(zhǔn)品(NIST)旨在用作校準(zhǔn)用于測(cè)量表面粗糙度的觸針儀器的標(biāo)準(zhǔn)。

SRM 2092低能CharpyV缺口標(biāo)本標(biāo)準(zhǔn)品(NIST)主要用于驗(yàn)證配備 8 毫米撞針的夏比機(jī)器，符合當(dāng)前 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E23 [1] 和當(dāng)前 ISO ...

SRM2093低能量CharpyV缺口標(biāo)本標(biāo)準(zhǔn)品(NIST)旨在根據(jù)當(dāng)前的 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E23 [1] 和當(dāng)前的 ISO 標(biāo)準(zhǔn) 148-2 [2] 驗(yàn)證配備...

SRM2096高能Charpy V-缺口標(biāo)本標(biāo)準(zhǔn)品(NIST)主要用于驗(yàn)證配備 8 毫米撞針的夏比機(jī)器，符合當(dāng)前 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E23 [1] 和當(dāng)前 ISO...

SRM2097高能CharpyV缺口標(biāo)本標(biāo)準(zhǔn)品(NIST)旨在根據(jù)當(dāng)前的 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E23 [1] 和當(dāng)前的 ISO 標(biāo)準(zhǔn) 148-2 [2] 驗(yàn)證配備 ...

SRM2098超高能夏比V型缺口試樣標(biāo)準(zhǔn)品(NIST)旨在根據(jù)當(dāng)前 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E23 [1] 和當(dāng)前 ISO 標(biāo)準(zhǔn) 148-2 [2] 驗(yàn)證配備 8 mm...

SRM 2100a陶瓷斷裂韌性標(biāo)準(zhǔn)品(美國(guó)NIST)旨在驗(yàn)證斷裂韌性測(cè)試程序。

SRM 21SRM 2100b 陶瓷斷裂韌性標(biāo)準(zhǔn)品(美國(guó)NIST)旨在驗(yàn)證斷裂韌性測(cè)試程序

SRM 2112動(dòng)態(tài)沖擊力驗(yàn)證樣本標(biāo)準(zhǔn)品NIST主要用于驗(yàn)證使用配備有儀表的 8 毫米撞針的夏比機(jī)器動(dòng)態(tài)測(cè)量的最大力，符合當(dāng)前 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E2298 [1...

SRM 2113動(dòng)態(tài)沖擊力驗(yàn)證樣本標(biāo)準(zhǔn)品NIST主要用于驗(yàn)證使用配備有儀表的 8 毫米撞針的夏比機(jī)器動(dòng)態(tài)測(cè)量的最大力，符合當(dāng)前 ASTM 標(biāo)準(zhǔn) E2298 [1...

SRM2133 Si深度剖面中的磷種植標(biāo)準(zhǔn)品NIST 旨在用于通過(guò)二次離子質(zhì)譜 (SIMS) 分析技術(shù)校準(zhǔn)對(duì)硅基質(zhì)中微量和痕量磷的二次離子響應(yīng)

SRM2134硅深度剖面標(biāo)準(zhǔn)中砷植入標(biāo)準(zhǔn)品NIST旨在用于通過(guò)二次離子質(zhì)譜 (SIMS) 分析技術(shù)校準(zhǔn)對(duì)硅基質(zhì)中微量和痕量砷的二次離子響應(yīng)。

SRM 2135c Ni/Cr薄膜深度剖面標(biāo)準(zhǔn)品NIST主要用于校準(zhǔn)表面分析中的濺射深度標(biāo)度和腐蝕速率。

SRM2137硅中硼植入深度剖面濃度標(biāo)準(zhǔn)品NIST旨在用于通過(guò)二次離子質(zhì)譜 (SIMS) 分析技術(shù)校準(zhǔn)對(duì)硅基質(zhì)中微量和痕量硼的二次離子響應(yīng)

SRM 2139 鋅鋁合金標(biāo)準(zhǔn)品(美國(guó)NIST)旨在用于通過(guò)二次離子質(zhì)譜 (SIMS) 分析技術(shù)校準(zhǔn)對(duì)硅基質(zhì)中微量和痕量硼的二次離子響應(yīng)。