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SRM 1259 鋁合金7075標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)主要用于USC的光學(xué)發(fā)射和x射線光譜分析方法。

SRM 1264a 高碳鋼標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)是一種低合金、高碳鋼，主要用于評估類似成分的合金鋼中元素的分析方法

SRM 1265a 電解鐵標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)主要用于評估類似成分的合金鋼中元素的分析方法

SRM 1269管線標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)32毫米(1/4英寸)直徑和19毫米(3/4英寸)厚，用于光學(xué)發(fā)射和x射線光譜分析方法。

SRM 1270La鋼，Cr-Mo標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)形式是32毫米(1/4英寸)直徑和19毫米(3/4英寸)厚，用于光學(xué)發(fā)射和x射線光譜分析方法。

SRM 1271 La鋼標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)主要用于光發(fā)射和x射線光譜分析方法。用于化學(xué)分析方法的類似材料可作為SRM 2171提供。

SRM 1276a銅鎳標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)位于光盤的波長范圍內(nèi)，直徑約32 mm(1/4英寸)，厚19 mm(3/4)，適用于光學(xué)測量和x射線分析。

SRM C1285低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)為直徑約32毫米(1/4英寸)的圓盤和19毫米(3/4英寸)厚，用于x射線光譜分析方法

SRM 1286低合金鋼HY 80標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)用于光發(fā)射和x射線熒光光譜分析。

SRM C1290 高合金白口鑄鐵標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)適用于光發(fā)射和x射線光譜分析方法。

SRM C1291 高合金白口鑄鐵標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)適用于光發(fā)射和x射線光譜分析方法。

SRM C1292 高合金白口鑄鐵標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)適用于光發(fā)射和x射線光譜分析方法。

SRM 1295不銹鋼標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)用于化學(xué)發(fā)射和全解析的x-Rey光譜方法

SRM C1296 不銹鋼標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)用于光學(xué)發(fā)射和x射線光譜分析方法。

SRM 1297 不銹鋼SAE 201標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)用于超聲光學(xué)測量和X射線特征碼Me：Hods肛.門

SRM 1358b 涂層厚度標(biāo)準(zhǔn)組標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)設(shè)計用于校準(zhǔn)采用磁原理的涂層測厚儀

SRM 1359b 涂層厚度標(biāo)準(zhǔn)組標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)設(shè)計用于校準(zhǔn)采用磁原理的涂層測厚儀

SRM 1362b 涂層厚度標(biāo)準(zhǔn)組標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)設(shè)計用于校準(zhǔn)采用磁原理的涂層測厚儀

SRM 1363b 涂層厚度標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)設(shè)計用于校準(zhǔn)采用磁原理的涂層測厚儀。

SRM1364b 涂層厚度標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)設(shè)計用于校準(zhǔn)采用磁原理的涂層測厚儀