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            德國FISCHER菲希爾測厚儀
            德國ElektroPhysik測厚儀
            泰勒霍普森TAYLOR HOBSON粗糙度儀
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            日本柯尼卡美能達

            菲希爾代理FischerX射線測厚儀信息

            時間:2024/7/5閱讀:342
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            Fischer 基本參數法,無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。多可同時測量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。

            菲希爾代理XDL型X射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經常校準儀器。

            菲希爾代理XDL系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監(jiān)控。
            菲希爾代理X射線測厚儀 FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210典型的應用領域有:

            ? 測量大規(guī)模生產的電鍍部件

            ? 測量薄鍍層,例如裝飾鉻

            ? 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

            ? 全自動測量,如測量印刷線路板

            ? 分析電鍍溶液


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