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            德國FISCHER菲希爾測厚儀
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            菲希爾XAN250 X射線測厚儀信息

            時間:2024/10/22閱讀:263
            分享:

              FISCHERSCOPE XAN 250菲希爾X射線熒光測量儀概述:

              高性能X射線熒光測量儀,配有非常先進的硅漂移探測器(SDD),可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

              FISCHERSCOPE XAN 250菲希爾X射線熒光測量儀特點:

              高性能機型,具有強大的綜合測量能力

              配有4 個電動調(diào)節(jié)的準直器和6個電動調(diào)節(jié)的基本慮片

              配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD),還適用于更復雜的多元素分析

              由下至上的測量方向,可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位

              FISCHERSCOPE XAN 250 X射線熒光測量儀典型應用領域:

              對電子和半導體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量

              對有害物質(zhì)進行痕量分析,例如,玩具中的鉛含量

              在珠寶和手表業(yè),以及在金屬精煉領域,對合金進行高精度的分析

              用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領域


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