fischer 菲希爾fischerscope x-ray xdl210

fischer 菲希爾fischerscope x-ray xdl210

菲希爾x-ray射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介：

FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款使用廣泛的能量色散型x 射線(xiàn)光譜儀。它是從大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上開(kāi)展而來(lái)的。與上一代相相似，它特別合適無(wú)損丈量鍍層厚度及材料剖析，同時(shí)還能全主動(dòng)丈量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線(xiàn)路板。比例接收器能完成高計(jì)數(shù)率，這樣就能夠進(jìn)行高精度丈量。因?yàn)椴捎昧薋ischer 基本參數(shù)法，無(wú)論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒(méi)有規(guī)范片的情況下進(jìn)行剖析和丈量。可同時(shí)丈量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

XDL 型X 射線(xiàn)光譜儀有著杰出的長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定性，這樣就不需求經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶(hù)經(jīng)行質(zhì)量操控、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。X射線(xiàn)熒光光譜儀，用于對(duì)維護(hù)和裝飾涂料，量產(chǎn)的零件和印制板上的涂層進(jìn)行手動(dòng)或主動(dòng)厚度丈量。菲希爾熒光鍍層剖析儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210合適鍍層厚度丈量的經(jīng)用儀器，即便大丈量距離也能夠丈量（DCM，范圍0-80mm）。裝備一個(gè)固定的準(zhǔn)直器和固定的濾片。合適丈量點(diǎn)在1mm以上的使用；跟XUL相似。可選用主動(dòng)丈量的可編程工作臺(tái).

高精度涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、涂層測(cè)厚儀、粗糙度、表面輪廓儀、圓度儀、圓柱度的儀器,淬火硬化層深度無(wú)損測(cè)量?jī)x,組件清潔度測(cè)試系統(tǒng)、關(guān)節(jié)臂三坐標(biāo)測(cè)量針探針,工業(yè)電子內(nèi)窺鏡,平面度測(cè)量?jī)x、光譜儀、高度計(jì)、通用長(zhǎng)度測(cè)量機(jī),齒輪嚙合儀,齒輪測(cè)量中心、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、硬度計(jì)、滲碳層厚度計(jì)、滲氮層深度無(wú)損檢測(cè)儀、紅外熱成像儀、紅外溫度計(jì)、投影儀、視頻測(cè)量?jī)x、材料萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)、莫尼粘度計(jì)、振動(dòng)計(jì)等精密測(cè)量?jī)x器。