Fischerscope X-RAY XDLM 231菲希爾x射線

從1953年至今，菲希爾公司不斷地在涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領(lǐng)域發(fā)展出創(chuàng)新型的測量技術(shù)。如今，菲希爾的測量技術(shù)已在世界各地得到應(yīng)用，滿足客戶對(duì)儀器準(zhǔn)確度，精度和可靠性的要求。

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 231
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237

兩種型號(hào)的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對(duì)于很小的測量點(diǎn),由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計(jì)數(shù)率,確保良好的重復(fù)精度。比較XUL和XUM儀器而言, XDL和XDLM系列儀器測星測星方向從.上到下。它們被設(shè)計(jì)為用戶友好的臺(tái)式機(jī),使用模塊化結(jié)構(gòu),也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺(tái)和Z軸以適應(yīng)不同的需求。

Fischerscope X-RAY XDLM 231菲希爾x射線

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是專為測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析而設(shè)計(jì)的入門級(jí)、耐用型測量儀。
微聚焦X射線管配合比例接收器能夠產(chǎn)生高計(jì)數(shù)率信號(hào)，以此造就了高精度的測量。出色的準(zhǔn)確性及長期的穩(wěn)定性是FISCHER X射線儀器的共有特點(diǎn)，因此也大大減少了重新校準(zhǔn)儀器的需要，為您節(jié)省時(shí)間和精力。
依靠FISCHER所采用的的*基本參數(shù)法，可以在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品及測量樣品的鍍層厚度。