菲希爾x熒光射線測厚儀XUL 220

菲希爾x熒光射線測厚儀XUL 220

XULM 240介紹：

XULM適合測量小的結(jié)構(gòu)。它配備了微聚焦管，測量點可達(dá)約100μｍ，同時比例接收器仍然可以保持相對高的計數(shù)率。即使很短的測量時間也可以達(dá)到很好的重復(fù)精度。此外，XULM配備了可自動切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造激勵條件。

菲希爾x射線測厚儀應(yīng)用實例:

XULM特別適合測量細(xì)小的部件如連接器，觸點或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點為?0.25mm的準(zhǔn)直器測量，20秒的重復(fù)精度可達(dá)2.5nm。

菲希爾X射線熒光鍍層測厚儀X-RAY XULM系列設(shè)計理念

FISCHERSCOPE X-RAY XULM設(shè)計為界面友好、結(jié)構(gòu)緊湊的臺式測量儀器系列。根據(jù)使用用途，有以下兩種不同版本型號，分別對應(yīng)不同樣品平臺：

XULM：固定平面平臺

XULM XYm：手動X/Y平臺

高分辨的彩色攝像頭配以強(qiáng)大的放大功能，可以定位測量位置。

盡管儀器本身結(jié)構(gòu)緊湊，但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測量室，從而可以測量更大體積的樣品。

外罩底部留下了空隙，可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品，如大面積的印制線路板等。

通過強(qiáng)大且界面友好的WinFTM軟件，可以在電腦上便捷地完成整個測量過程，包括測量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有相關(guān)信息的顯示等。

XULM型光譜儀是型式許可符合德國"Deutsche R?ntgenverordnung-R?V“法令要求的，有完善防護(hù)措施的測量儀器。

PHASCOPE PMP10主要用于在電鍍和PCB行業(yè)中對各種基材上的金屬鍍層的厚度進(jìn)行質(zhì)量控制。無論樣品表面是否平滑，PMP10都可以準(zhǔn)確測量鐵基材上的鍍鎳層、鍍銅層和鍍鋅層的厚度；它還能對印制電路板上的銅層厚度，甚至是孔內(nèi)銅層的厚度進(jìn)行測量。PMP10 Duplex 型儀器是專為汽車行業(yè)測量雙鍍層而開發(fā)的（例如：油漆/Zn/Fe）：通過一次測量就能同時獲得和顯示兩層涂鍍層各自的厚度。它還可以測量鋁材上油漆層的厚度。