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| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌Helmut Fischer/德國菲希爾
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地無錫市
更新時間：2024-06-16 15:09:56瀏覽次數(shù)：596次
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菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XUL 和 XULM
fischerscope x-ray xul xym江蘇菲希爾
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,石油,能源,電子/電池 |
菲希爾x射線測厚儀
XAN 215 X射線熒光鍍層測厚儀
菲希爾測厚儀產(chǎn)品用途
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:
●菲希爾測厚儀珠寶、貴金屬和牙科用合金分析
●菲希爾測厚儀黃金制品和K金制品分析
●菲希爾x-ray鉑金制品和銀制品分析
●菲希爾x-ray銠制品分析
●菲希爾代理其他合金分析和鍍層厚度測量
●菲希爾代理多鍍層厚度測量
菲希爾代理FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），多可同時測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，減少了校準儀器所需的時間和精力。Si-PIN的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。
| 通用規(guī)格 | |
| 設(shè)計用途 | 采用能量色散型X射線熒光光譜法（EDXRF）， 用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度 |
| 元素范圍 | 從元素氯（17）到鈾（92），多可同時測定24種元素。 |
| 重復(fù)性 | 測量金元素時≤1‰，測量時間60秒 |
| 形式設(shè)計 | 臺式儀器，測量門向上開啟 |
| 測量方向 | 由下往上 |
| X射線源 | |
| X射線管 | 帶鈹窗口的鎢靶射線管 |
| 高壓 | 三檔：30KV，40KV，50KV |
| 孔徑（準直器） | φ1mm；可選φ2mm |
| 測量點尺寸 | 當(dāng)測量距離MD=0mm時，測量點直徑=孔徑直徑+200μm |
| X射線探測 | |
| X射線探測器 | 采用珀耳帖了法冷卻的Si-PIN接收器 |
能量分辨率 （Mn元素Kα半高寬） | ≤180eV |
| 測量距離 | 0 10mm |
| 通過受保護的DCM測量距離補償法，可在不同測量距離上不需要重新校準就能進行測量；對于特殊的應(yīng)用或者對測量精度要求較高的測量，可能需要進行額外的校準。 | |
| 樣品定位 | |
| 樣品放置 | 手動 |
| 視頻系統(tǒng) | 高分辨率CCD彩色攝像頭，可沿著初級X射線光束方向，手動焦距，對被測位置進行監(jiān)控 |
| 十字線（帶有經(jīng)過校準的刻度和測量點尺寸），可調(diào)節(jié)亮度的LED照明 | |
| 圖像發(fā)達倍數(shù) | 40x~160x |
| 工作臺 | |
| 形式設(shè)計 | 固定工作臺 |
| 樣品放置可用區(qū)域 | 310x320mm |
| 樣品大重量 | 13KG |
| 樣品高高度 | 90mm |
| 電氣參數(shù) | |
| 電源要求 | AC 220V 50Hz |
| 功耗 | 大120W（不包括計算機） |
| 保護等級 | IP40 |
| 尺寸規(guī)格 | |
| 外部尺寸（寬x深x高） | 403x588x365mm |
| 重量 | 大約45KG |
| 環(huán)境要求 | |
| 使用時溫度 | 10℃~40℃ |
| 存儲或運輸時溫度 | 0℃~50℃ |
| 空氣相對濕度 | ≤95%，無結(jié)露 |
| 計算單元 | |
| 計算機 | Windows®-PC |
| 軟件 | 標準：Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能 |
| 可選：Fischer WinFTM® | |
| 執(zhí)行標準 | |
| CE合格標準 | EN 61010 |
| X射線標準 | DIN ISO 3497 和ASTM B 568 |
| 形式批準 | |
| 符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規(guī)的規(guī)定 | |
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