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            無錫駿展儀器有限責(zé)任公司
            中級(jí)會(huì)員 | 第4年

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            Fischer XAN 220菲希爾x射線測(cè)厚儀
            • Fischer XAN 220菲希爾x射線測(cè)厚儀

            貨物所在地:江蘇無錫市

            更新時(shí)間:2024-08-23 09:27:31

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            德國(guó)FISCHER菲希爾測(cè)厚儀
            德國(guó)ElektroPhysik測(cè)厚儀
            泰勒霍普森TAYLOR HOBSON粗糙度儀
            德國(guó)MAHR馬爾粗糙度儀
            德國(guó)HOMMEL霍梅爾粗糙度儀
            三豐粗糙度儀
            德國(guó)BYK
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            日本柯尼卡美能達(dá)
            Fischer XAN 220菲希爾x射線測(cè)厚儀,菲希爾金屬鍍層測(cè)厚儀,測(cè)量稀有金屬的厚度。

            Fischer XAN 220菲希爾x射線測(cè)厚儀

            FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220/222,X射線熒光測(cè)量?jī)x,用于快速、無損分析黃金和銀合金:

            X射線熒光測(cè)量?jī)x用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度測(cè)量,菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一種優(yōu)化的X射線熒光測(cè)量?jī)x器,用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯(17)到鈾(92)范圍內(nèi)可同時(shí)測(cè)定多達(dá)24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。

            FISCHERSCOPE XAN220產(chǎn)品特點(diǎn):

            •    菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設(shè)計(jì);

            •    配備固定的準(zhǔn)直器和基本慮片,特別適用于貴金屬分析

            •    配備高分辨率硅漂移探測(cè)器 (SDD),適用于更復(fù)雜的多元素分析

            •    由下至上的測(cè)量方向,可以簡(jiǎn)便地實(shí)現(xiàn)樣品定位


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            德國(guó)FISCHER X-RAY XAN 215入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度,通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無損分析。

            德國(guó)FISCHER X-RAY XAN 215入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

            FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款頗具性價(jià)比的入門級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀,通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無損分析。

            它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度,從元素氯(17)到鈾(92),多時(shí)可同時(shí)測(cè)定24種元素。

            正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣,本款儀器有著初設(shè)的準(zhǔn)確性以及長(zhǎng)期的穩(wěn)定性,這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。

            *的Si-PIN的*基本參數(shù)法,可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。


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