fischerscope XDLM231/XDLM232/XDLM237，菲希爾測厚儀，fischer x射線測厚儀，x熒光射線測厚儀
fischerscope XDLM231/XDLM232/XDLM237
FischerXDLM232
FischerXDLM232
x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237也稱為X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用手動或自動方式，測量和分析微小結構的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產的零部件上的鍍層。
x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237典型的應用領域有：
1，測量大規(guī)模生產的電鍍零部件
2，測量微小區(qū)域上的薄鍍層
3，測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層
4，全自動測量，如測量印刷線路板
ISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是應用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量超薄鍍層和微含量而設計，是用于質量控制，質量檢驗和生產監(jiān)控的最合適的測量儀器。
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據(jù)不同的預期用途，有不同的版本。
XDLM 231 型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅動的 Z 軸升降系統(tǒng)。
XDLM 232 型配有可手動操控的 X/Y 工作臺，馬達驅動的 Z 軸升降系統(tǒng)。
XDLM 237 型則配備了馬達驅動的 X/Y 工作臺，當保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。
XDLM系列儀器帶有4個可切換準直器，3種可切換的基本濾片，采用比例接收器，測量距離為0-80mm。
使用高分辨率的CCD彩色攝像頭
儀器重量100kg-120kg
儀器使用時溫度范圍10℃-40℃，空氣相對濕度為≤95%，無結露
計算機要求：帶擴展卡的計算機系統(tǒng)
可按要求，提供額外的XDLM型產品更改和XDLM儀器技術咨詢
穩(wěn)固的手持式測量設備，用于直接現(xiàn)場測試
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 231
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237
fischerscope XDLM231/XDLM232/XDLM237
