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FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ菲希爾測厚儀

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貨物所在地：江蘇無錫市

更新時間：2024-08-27 11:15:24

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德國ElektroPhysik測厚儀: 筆式涂層測厚儀 QUINTSONIC 7超聲波測厚儀麥考特機(jī)械式測厚儀 Elektrophysik測厚儀代理 EPK代理測厚儀 EPK爐壁測厚儀 EPK庫倫法測厚儀 EPK涂層測厚儀 MINITEST1100/2100/3100/4100 MINITEST720/730/740 MINITEST725/735/745 MINITEST 403/405/406 MiniTest 400/400A/400B MINITEST 650 EPK測厚儀 MiniTest 7200/7400 FH MiniTest 420/430/440 MINITEST2500/MINITEST4500 EPK MINITEST 600涂層測厚儀

泰勒霍普森TAYLOR HOBSON粗糙度儀: 準(zhǔn)直儀泰勒霍普森粗糙度儀泰勒霍普森圓度儀泰勒霍普森粗糙度輪廓儀 Surtronic DUO Surtronic S128 Surtronic S116

德國MAHR馬爾粗糙度儀: MARSURF M310粗糙度儀馬爾粗糙度儀測針 MARSURF M300 MARSURF PS10 馬爾粗糙度儀

德國HOMMEL霍梅爾粗糙度儀: HOMMEL W20粗糙度測量儀 HOMMEL W10霍梅爾粗糙度儀 HOMMEL W5粗糙度儀霍梅爾粗糙度儀探頭霍梅爾粗糙度儀

三豐粗糙度儀: 粗糙度儀 SJ-210

德國BYK: BYK4563 BYK4561 BYK光澤度儀

API: API激光跟蹤儀 API激光干涉儀

尼克斯: 尼克斯測厚儀

思看: 思看三維掃描儀

PROCEQ: 硬度計(jì)

哈納: 水質(zhì)分析儀

日本KETT: 測厚儀

日本柯尼卡美能達(dá): 色差儀

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產(chǎn)品簡介詳細(xì)介紹

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ菲希爾測厚儀，是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計(jì)的。

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ菲希爾測厚儀

FISCHERXDV-µ測量儀

FISCHERXDV-µ測量儀是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計(jì)的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達(dá)10至60µm。FISCHERXDV-µ測量儀短時間內(nèi)就可形成高強(qiáng)度聚焦射線。是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計(jì)的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達(dá)10至60µm。短時間內(nèi)就可形成高強(qiáng)度聚焦射線。。是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計(jì)的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達(dá)10至60µm。

短時間內(nèi)就可形成高強(qiáng)度聚焦射線。系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達(dá)10至是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計(jì)的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達(dá)10至60µm。短時間內(nèi)就可形成高強(qiáng)度聚焦射線。60µm。短時間內(nèi)就可形成高強(qiáng)度聚焦射線。

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ菲希爾測厚儀