FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm菲希爾測厚儀
fischer熒光鍍層分析儀x-ray簡介
FISCHERSCOPE-X-RAY XUL是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結(jié)構(gòu)緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。
比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行準(zhǔn)確分析和測量?？蓽y量的元素范圍從氯（17）到鈾（92）。
XUL型X射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。
本款儀器特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
在小部件如螺釘、螺栓和螺帽上的測量
在連接器和電氣元件上的測量
電鍍液的溶液成分分析
FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm菲希爾測厚儀
一款適合電鍍廠測量鍍層厚度的便宜耐用的儀器。它配備了一個固定的準(zhǔn)直器和濾片，射線管出射點(diǎn)稍大，非常適合測量點(diǎn)在1mm以上的應(yīng)
用。低能射線元件激發(fā)效率較低；但是對于標(biāo)準(zhǔn)的測量典型電鍍層厚度的應(yīng)用，如Cr、Ni、Cu，沒有任何問題。
無錫駿展儀器有限責(zé)任公司起源于美國,英國,德國和其他地區(qū)的合作伙伴,與全系列的產(chǎn)品資源和服務(wù),光學(xué)儀器、測量儀器、無損檢測、實(shí)驗(yàn)儀器、分析儀器、測量工具測量工具和其他類型的測試設(shè)備,努力為客戶解決快速分析的測量技術(shù)挑戰(zhàn),聯(lián)合提供定制化精密測量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動企業(yè)實(shí)現(xiàn)既定目標(biāo)。
