菲希爾X熒光射線測厚儀XAN215，fischerscope xan215測厚儀，和XUL系列一樣，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線XAN儀器非常適合分析簡單形狀的樣品。然而，XAN系列的一大優(yōu)勢在于其高質量的半導體探測器。
菲希爾X熒光射線測厚儀XAN215
菲希爾X熒光射線測厚儀XAN215
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），多可同時測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，減少了校準儀器所需的時間和精力。Si-PIN的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。
設計用途采用能量色散型X射線熒光光譜法（EDXRF），用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度
元素范圍從元素氯（17）到鈾（92），多可同時測定24種元素。
重復性測量金元素時≤1‰，測量時間60秒
形式設計臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向由下往上
X射線源
X射線管帶鈹窗口的鎢靶射線管
高壓三檔：30KV，40KV，50KV
孔徑（準直器）φ1mm；可選φ2mm
測量點尺寸當測量距離MD=0mm時，測量點直徑=孔徑直徑+200μm
X射線探測
X射線探測器采用珀耳帖了法冷卻的Si-PIN接收器
能量分辨率（Mn元素Kα半高寬）≤180eV
測量距離0...10mm
通過受保護的DCM測量距離補償法，可在不同測量距離上不需要重新校準就能進行測量；對于特殊的應用或者對測量精度要求較高的測量，可能需要進行額外的校準。
樣品定位
樣品放置手動
視頻系統(tǒng)高分辨率CCD彩色攝像頭，可沿著初級X射線光束方向，手動焦距，對被測位置進行監(jiān)控
十字線（帶有經過校準的刻度和測量點尺寸），可調節(jié)亮度的LED照明
圖像發(fā)達倍數(shù)40x~160x
工作臺
形式設計固定工作臺
樣品放置可用區(qū)域310x320mm
樣品大重量 13KG
樣品高高度90mm
電氣參數(shù)
電源要求AC 220V 50Hz
功耗大120W（不包括計算機）
保護等級IP40
尺寸規(guī)格
外部尺寸（寬x深x高）403x588x365mm
重量大約45KG
環(huán)境要求
使用時溫度10℃~40℃
存儲或運輸時溫度0℃~50℃
空氣相對濕度≤95%，無結露
計算單元
計算機 Windows®-PC
軟件標準：Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能
可選：Fischer WinFTM®
執(zhí)行標準
CE合格標準EN 61010
X射線標準DIN ISO 3497 和ASTM B 568
形式批準 符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規(guī)的規(guī)定
