泰勒霍普森Surtronic DUO，一種便攜式表面粗糙度測量儀。SURTRONIC DUO新型粗糙度儀可測 Ra ， Rz等參數(shù)。
泰勒霍普森Surtronic DUO
泰勒霍普森Surtronic DUO
泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic DUO測量原理通過采用耐磨的金剛石測針部件，以及精密的機動驅動裝置，確保行進正確的水平距離。
當Surtronic DUO測針劃過波峰和波谷時，高感應度的壓電傳感器能檢測到它的垂直移動，然后將機械移動轉化為電子信號。電子信號將進行數(shù)字化處理并發(fā)送到微處理器，然后使用標準化算法即時計算表面粗糙度參數(shù)
Surtronic DUO輕輕的按下測量按鈕，在幾分鐘內就能得到一個完整的可追溯的測量結果，包括可在屏幕上顯示的詳細輪廓曲線圖。
泰勒霍普森粗糙度儀特殊設計，堅固耐用
整個機身由塑化橡膠包裹。聚脂薄膜保證了觸摸屏的持久耐用性，適用于工業(yè)環(huán)境。
InstantOn這些儀器采用InstantOn技術，開機后不到5秒鐘就能開始測量！
泰勒霍普森粗糙度儀現(xiàn)場測量
在現(xiàn)場檢測產(chǎn)品磨損和粗糙度的變化，預估產(chǎn)品的壽命。例如，檢測渦輪片表面粗糙度的變化，作為早期缺陷和效率損失的預警信號。
泰勒霍普森粗糙度儀用戶友好使用界面
Surtronic Duo就像智能手機一樣簡單易用。用戶可以快速直觀地使用三按鈕菜單，體驗清晰的2.4英寸的工業(yè)彩色
LCD屏幕。
藍牙連接
采用新一代藍牙技術，支持在顯示裝置和驅動裝置之間進行高效率無線通信。
電力持久
采用可靠的大容量鋰電池技術，Surtronic Duo支持全天候使用，充一次電便可進行2000多次測量。
提供參數(shù)：ISO 4287粗糙度*
Rt – 峰谷值
Rp –最大波峰值
Rv – 最大波谷值
Rz – 平均峰谷值
Ra – 算術平均值
其它參數(shù)，包括：Rsk, Rku,Rq,Rz1max
* 包括主要參數(shù)
