FISCHERSCOPE X-ray XUL220測(cè)厚儀信息應(yīng)用

X射線熒光鍍層測(cè)厚儀用于無損測(cè)量鍍層厚度以及分析材料成分。

XUL220測(cè)厚儀是一款性能優(yōu)秀的、設(shè)計(jì)緊密、應(yīng)用廣泛的x射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。常常用于無損測(cè)量細(xì)小工件上的鍍層厚度和材料分析。比較適合在質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)及生產(chǎn)過程控制中測(cè)量使用。

測(cè)量領(lǐng)域有：1，在小部件，如螺釘，螺栓和螺帽上的測(cè)量；2，在連接器和電氣元件上的測(cè)量；3，電鍍液的溶液成分分析。

其中比例接收器可以有效的提高工作效率，大大減少了工作時(shí)的繁瑣步驟，它可以進(jìn)行高精度的測(cè)量，就像所有FISCHERSCOPE X-RAY 的儀器一樣，擁有出色的精確性以及長(zhǎng)期的穩(wěn)定性，這樣可以有效的減少校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。

FISCHERSCOPE X-RAY XUL220，依靠FISCHER的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固，液態(tài)成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。