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菲希爾XDL240新型X射線測(cè)厚儀信息
X射線熒光鍍層測(cè)厚儀以及分析儀，采用手動(dòng)或者自動(dòng)的形式，測(cè)量分析印刷電路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。
XDL240馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 X-Y 工作臺(tái)，當(dāng)測(cè)量門(mén)打開(kāi)時(shí)，工作臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到放置樣品的位置；馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的Z軸系統(tǒng)，可編程運(yùn)行。測(cè)量箱底部的開(kāi)槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計(jì)，由此儀器就可以測(cè)量比測(cè)量箱更長(zhǎng)和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。所有的儀器操作，以及測(cè)量數(shù)據(jù)的計(jì)算和測(cè)量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示，都可以通過(guò)功能強(qiáng)大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL240
604-498
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