Fischerscope X-RAY XAN250/252

FISCHERSCOPE XAN 250 X射線熒光測量儀特點：

1. 菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY XAN250無錫駿展儀器高性能機型，具有強大的綜合測量能力

2. 菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY XAN250無錫駿展儀器配有4 個電動調(diào)節(jié)的準直器和6個電動調(diào)節(jié)的基本慮片

3. 菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY XAN250無錫駿展儀器配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復(fù)雜的多元素分析

4. 由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位

FISCHERSCOPE XAN 250 X射線熒光測量儀典型應(yīng)用領(lǐng)域：

1. 對電子和半導(dǎo)體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量

2. 對有害物質(zhì)進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量

3. 在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領(lǐng)域，對合金進行高精度的分析

4. 用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域