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菲希爾鍍層測厚儀、X射線儀器
可用于測量所有金屬鍍層的厚度以及多鍍層或者合金成分分析，也可以進行電解溶液含量成份分析，帶有國家環(huán)保局豁免證書，無放射源設計，安全環(huán)保。主要用于微小結構的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產的零部件上的鍍層測量、分析。
菲希爾X射線測厚儀特點：
1、測量大規(guī)模生產的電鍍零部件；
2、測量微小區(qū)域上的薄鍍層；
3、測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層；
4、全自動測量，如測量印刷線路板。
型號 項目 | XDLM-231 | XDLM-237 | ||
通用規(guī)格 | 設計用途 | 能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) ，測量薄鍍層和微小結構樣品，分析合金組分 | ||
元素范圍 | 從元素氯 (17) 到鈾 (92)，最多可以同時測定24種元素 | |||
工作臺 | 平臺 | 固定式樣品平臺 | 馬達驅動可編程X/Y平臺 | |
可用樣品平臺 | 463mm x 500mm | 300mm x 350mm | ||
X/Y平臺最大移動距離 | \ | 255mm x 235mm | ||
X/Y平臺最大移動速度 | \ | ≤80mm/s | ||
X/Y平臺移動重復精度 | \ | ≤0.01mm（單向） | ||
樣品最大重量 | 20kg | 5kg，降低精度可達20kg | ||
樣品最高高度 | 140mm | |||
電氣參數(shù) | 電原要求 | AC 220V 50HZ | ||
功耗 | 最大120W（測量頭，不包括計算機） | |||
保護等級 | IP40 | |||
環(huán)境要求 | 使用溫度 | 10℃-40℃ | ||
存儲或運輸時溫度 | 0℃-50℃ | |||
空氣相對濕度 | ≤95%，不結露 | |||
計算單元 | 計算機 | Windows®-PC | ||
軟件 | 標準：Fischer WinFTM® BASIC 可選：Fischer WinFTM® PDM®，SUPER | |||
尺寸規(guī)格 | 外部尺寸 | 570mm×760mm×650mm | ||
內部測量艙尺寸 | 460mm x 495mm x146mm | |||
重量 | 100kg | 120kg | ||
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