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            JSM-IT810-場發(fā)射掃描電子顯微鏡
            • JSM-IT810-場發(fā)射掃描電子顯微鏡

            貨物所在地:江蘇蘇州市

            地: 日本

            更新時(shí)間:2025-04-23 11:03:33

            瀏覽次數(shù):10

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            JSM-IT810
            場發(fā)射掃描電子顯微鏡
            JSM-IT810系列FE-SEM結(jié)合多功能性和高空間分辨率,實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化操作。內(nèi)置無需編碼的成像和EDS分析自動(dòng)化功能,使工作流程更加流暢高效。 此外,還新增了一些功能,確保所有SEM用戶獲得高質(zhì)量數(shù)據(jù)和更好的用戶體驗(yàn)。FE-SEM的操作從沒有像JSM-IT810系列這么簡單。

            JSM-IT810場發(fā)射掃描電子顯微鏡利用自動(dòng)化技術(shù),提高了從儀器調(diào)試到觀測分析的操作效率!

            JSM-IT810場發(fā)射掃描電子顯微鏡系列FE-SEM結(jié)合多功能性和高空間分辨率,實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化操作。內(nèi)置無需編碼的成像和EDS分析自動(dòng)化功能,使工作流程更加流暢高效。 此外,還新增了一些功能,確保所有SEM用戶獲得高質(zhì)量數(shù)據(jù)和更好的用戶體驗(yàn)。 這些功能包括SEM自動(dòng)調(diào)整包、梯形校正功能(在EBSD測試中非常有用)、以及用于觀察表面形貌的Live 3D重構(gòu)功能。

            FE-SEM的操作從沒有像JSM-IT810系列這么簡單。



               主要特點(diǎn)                                                                                                                                      

            1.  自動(dòng)觀察分析功能“Neo Action"

              智能操作,自動(dòng)執(zhí)行SEM觀測和能譜分析(EDS)


            場發(fā)射掃描電子顯微鏡


            Sample: Chondrules in chondrite Julesberg (L3.6),Landing Voltage: 5 kV


            2.  自動(dòng)校準(zhǔn)功能“SEM自動(dòng)調(diào)整包"

            用標(biāo)樣來進(jìn)行自動(dòng)倍率調(diào)整、電子束對中和EDS能量校準(zhǔn)。定期檢查確保設(shè)備處于最佳狀態(tài)。


            場發(fā)射掃描電子顯微鏡




            3.  實(shí)時(shí)3D功能

            5段半導(dǎo)體型探測器可以選擇背散射電子信號。從外側(cè)4段獲取的二維圖像可用于三維圖像重構(gòu)。

            全新的Live-3D功能可實(shí)時(shí)測量和檢查樣品的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。



            場發(fā)射掃描電子顯微鏡



            4.  一體化EDS

            一體化EDS集成消除了SEM觀察與EDS元素分析之間的障礙。觀察屏幕上有點(diǎn)、面、線、和MAP等各種分析模式,可以立刻進(jìn)行分析。


            場發(fā)射掃描電子顯微鏡














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