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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,綜合 |
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
E+H FMP54導波雷達物位計供應
雷達物位計按工作方式可以分為非接觸式和接觸式兩種。
非接觸式微波物位計常用喇叭或桿式天線來發(fā)射與接收微波，儀表安裝在料倉頂部，不與被測介質(zhì)接觸，微波在料倉上部空間傳播與返回。安裝簡單、維護量少，并且不受料倉內(nèi)氣體成分、粉塵、溫度變化等的影響，深受用戶歡迎，可替代勞動強度大的人工投尺或帶重錘的卷尺、維修率高的接觸式儀表（重錘探測式y(tǒng)o-yo）、電容等。因此，非接觸式微波物位計是近年來發(fā)展最快的物位測量儀表。
接觸式微波物位計一般采用金屬波導體（桿或鋼纜）來傳導微波，儀表從倉頂安裝，導波桿直達倉底，發(fā)射的微波沿波導體外部向下傳播，在到達物料面時被反射，沿波導體返回發(fā)射器被接收。
E+H FMP54導波雷達物位計供應
1.雷達物位計
雷達物位計發(fā)射功率很低的極短的微波通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和精確的測量。即使存在虛假反射的時候，最新的微處理技術(shù)和軟件也可以準確地分析出物位回波。通過輸入容器尺寸，可以將上空距離值轉(zhuǎn)換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調(diào)試。在固體測量中的應用可以使用K-頻段的高頻傳感器。由于信號的聚焦效果非常好，料倉內(nèi)的安裝物或倉壁的粘附物都不會影響測量。
2.導波雷達物位計
導波雷達物位計的微波脈沖沿著一根纜、棒或包含一根棒的同軸套管運行，接觸到被測介質(zhì)后，微波脈沖被反射回來，并被電子部件接收，并分析計算其運行時間。微處理器識別物位回波，分析計算后將它轉(zhuǎn)換成物位信號給出。由于測量原理簡單，可以不帶料調(diào)整，從而節(jié)省了大量調(diào)試費用。測量纜或棒可以截短，使之更加適應現(xiàn)場的應用。對于蒸汽不敏感，即使在煙霧、噪音、蒸汽很強烈的情況下，測量精度也不受到影響。不受介質(zhì)特性變化的影響，被測介質(zhì)的密度變化或介電常數(shù)的變化不會影響測量精度。粘附：沒有問題，在測量探頭或容器壁上粘附介質(zhì)不會影響測量結(jié)果。容器內(nèi)安裝物如果采用同軸套管式的測量全不受容器內(nèi)安裝物的影響，不需要特殊調(diào)試。