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            東莞市德祥儀器有限公司
            中級(jí)會(huì)員 | 第4年

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            高壓加速壽命試驗(yàn)箱HAST

            參  考  價(jià):60300 - 99999 /臺(tái)
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 型號(hào)

              DX-HAST350

            • 品牌

              德祥儀器

            • 廠商性質(zhì)

              生產(chǎn)商

            • 所在地

              東莞市

            更新時(shí)間:2024-11-19 12:40:18瀏覽次數(shù):698次

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            產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,電氣,綜合
            溫度范圍 +100℃~+132℃ 濕度范圍 ?70%~100%
            濕度控制穩(wěn)定度? ±3%RH 使用壓力? 1.2~2.89kg(含1atm)
            壓力波動(dòng)均勻度? ±0.1Kg
            高壓加速壽命試驗(yàn)箱HAST是一種用于進(jìn)行高溫高濕環(huán)境下的快速壽命測試的設(shè)備。它主要用于評(píng)估電子元器件在潮濕環(huán)境下的可靠性和耐受性。HAST試驗(yàn)箱通常采用高溫高濕條件下的高壓飽和蒸汽,通過對(duì)樣品施加高溫高濕環(huán)境以及與之相應(yīng)的電壓,模擬真實(shí)環(huán)境中的潮濕環(huán)境。這些條件可以使得電子元器件在短時(shí)間內(nèi)暴露于惡劣的環(huán)境,從而加速其老化過程。

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            hast高壓加速老化試驗(yàn)箱設(shè)備特點(diǎn):

            1)采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu),降低了使用故障率。

            2)獨(dú)立蒸汽發(fā)生室,避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品,以免造成產(chǎn)品局部破壞。

            3)門鎖省力結(jié)構(gòu),解決第一代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點(diǎn)。

            4)試驗(yàn)前排冷空氣;試驗(yàn)中排冷空氣設(shè)計(jì)(試驗(yàn)桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.

            5)超長效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間,長時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺(tái)運(yùn)轉(zhuǎn)400小時(shí).

            6)水位保護(hù),透過試驗(yàn)室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù).

            7)tank耐壓設(shè)計(jì),箱體耐壓力(150℃)2.65kg,符合水壓測試6kg.

            8)二段式壓力安全保護(hù)裝置,采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置.

            9)安全保護(hù)排壓鈕,警急安全裝置二段式自動(dòng)排壓鈕 .

            10)偏壓測試端子耐壓可達(dá)3000V(選配)

            11)USB導(dǎo)出歷史記錄數(shù)據(jù),曲線.

            高壓加速壽命試驗(yàn)箱HAST用途:

            加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等),加快試驗(yàn)過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件,和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。隨著半導(dǎo)體可靠性的提高,目前大多半導(dǎo)體器件能承受長期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效,因此用來確定成品質(zhì)量的測試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間,采用了的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型:即PCT和USPCT(HAST) 現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC(國際電工委員會(huì))所標(biāo)準(zhǔn)化。 注意事項(xiàng):USPCT現(xiàn)在稱為HAST(高度加速應(yīng)力試驗(yàn))。

            高壓加速壽命試驗(yàn)箱HAST試驗(yàn)中,電子元器件通常被放置在密封的試驗(yàn)室中,并通過電氣連接與測試設(shè)備相連。試驗(yàn)箱甚至還可能具有震動(dòng)功能,以模擬真實(shí)環(huán)境中的振動(dòng)條件。通過高壓加速壽命試驗(yàn)箱,可以評(píng)估電子元器件在潮濕環(huán)境下的可靠性和壽命特性,幫助制造商提前發(fā)現(xiàn)潛在的故障和問題,從而改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)工藝。這樣可以減少產(chǎn)品退貨率和維修成本,提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性,滿足客戶的需求和期望。


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