產(chǎn)品簡(jiǎn)介
薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)RS-3專門針對(duì)薄膜材料的變溫seebeck系數(shù)和電阻率的測(cè)量?jī)x器,采用動(dòng)態(tài)法和四線法保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確和穩(wěn)定,擁有寬廣的測(cè)試范圍和便捷的操作界面。
詳細(xì)介紹
熱電薄膜塞貝克參數(shù)測(cè)試儀
薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)MRS-3專門針對(duì)薄膜材料的變溫seebeck系數(shù)和電阻率的測(cè)量?jī)x器,采用動(dòng)態(tài)法和四線法保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確和穩(wěn)定,擁有寬廣的測(cè)試范圍和便捷的操作界面。
● 專門針對(duì)薄膜材料的Seebeck系數(shù)和電阻率測(cè)量。
● 采用動(dòng)態(tài)法測(cè) 量Seebeck系數(shù),避免了靜態(tài)測(cè)量在溫差測(cè)量上的系統(tǒng)誤差,測(cè)量更準(zhǔn)確。
● 真空度≤10Pa
● 塞貝克系數(shù)測(cè)量范圍:S≥8uV/K;分辨率≤±7
應(yīng)用
● Seebeck效應(yīng)
● Peltier效應(yīng)
熱電薄膜塞貝克參數(shù)測(cè)試儀