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            賽默飛電子顯微鏡

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            集成能譜場發(fā)射掃描電鏡Apreo ChemiSEM新品發(fā)布會

            閱讀:171      發(fā)布時間:2024-8-20
            分享:
            引言

            研究先進材料需要對樣品的表面、結構和化學成分有深刻的理解。無論您是在研究下一項創(chuàng)新,還是專注于產(chǎn)品開發(fā)和制造,了解樣品材料屬性都可以幫助您分析源材料的來源和純度,評估缺陷,并確保成品的質(zhì)量。

            Thermo Scientific™ Apreo™ ChemiSEM™ 系統(tǒng)革新并簡化了這些分析。通過將高分辨率成像、元素分析和結構分析的硬件和軟件集成,它提供了一個流暢直觀的工作流程,適用高通量的實驗室,并為各種樣品提供高性能分析。

            特邀專家

            集成能譜場發(fā)射掃描電鏡Apreo ChemiSEM新品發(fā)布會

            集成能譜場發(fā)射掃描電鏡Apreo ChemiSEM新品發(fā)布會

            ?集成能譜場發(fā)射掃描電鏡Apreo ChemiSEM新品發(fā)布會

            會議日程

            2024年8月28日14:00-16:00

            時間主題演講嘉賓
            14:00-14:05Apreo ChemiSEM產(chǎn)品視頻/
            14:05-14:10開場致辭賽默飛高級商務總監(jiān)陳廳行;賽默飛高級產(chǎn)品市場總監(jiān)Kevin Fairfax;中國科學院上海硅酸鹽研究所曾毅
            14:10-14:40掃描電鏡和EBSD的應用中國科學院上海硅酸鹽研究所曾毅
            14:40-15:10掃描電鏡低電壓成像技術:回顧與討論華南理工大學孫千
            15:10-15:30Apreo ChemiSEM實機演示賽默飛上海納米港
            15:30-15:50Apreo ChemiSEM產(chǎn)品介紹賽默飛業(yè)務拓展經(jīng)理王慧敏
            15:50-16:00有獎問答/
            集成能譜場發(fā)射掃描電鏡Apreo ChemiSEM新品發(fā)布會

            報名方式:

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            產(chǎn)品展示

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