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            otsukael 多分析物納米顆粒尺寸測量系統(tǒng) nanoSAQLA

            時間:2024/7/26閱讀:335
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            多分析物納米顆粒尺寸測量系統(tǒng) nanoSAQLA


            nanoSAQLA是采用動態(tài)光散射法(DLS法)的粒徑測量裝置(粒徑0.6nm至10μm)。

            配備進一步追求質(zhì)量控制需求的各種功能。

            一種新的光學(xué)系統(tǒng),支持從稀釋系統(tǒng)到濃縮系統(tǒng)的寬濃度范圍內(nèi)的多分析物測量,實驗室的輕量化和緊湊設(shè)計,以及標(biāo)準(zhǔn)的 1 分鐘高速測量。


            此外,這款新產(chǎn)品是非浸入式的,不受污染影響,標(biāo)配“5個樣品連續(xù)測量",無需自動進樣器。


            特征:

            用一臺

             設(shè)備輕松連續(xù)測量 5 個樣品 實現(xiàn)了多個樣品的連續(xù)測量,這在沒有自動進樣器的情況下是困難的

             也可以通過改變每個樣品的條件進行測量。

            與稀釋到濃縮系統(tǒng)兼容

            標(biāo)準(zhǔn)測量時間:1分鐘高速測量

             針對濃樣品和稀樣品自動調(diào)整最佳測量位置,實現(xiàn)約1分鐘高速測量

            配備簡易測量功能(一鍵開始測量)

             軟件簡單易懂,無需復(fù)雜操作

            內(nèi)置非浸入式池塊,消除污染,無需分液。每個

             池都是獨立的,無需擔(dān)心污染。

            配備溫度梯度功能

             ,方便溫度設(shè)定


            測量范圍(理論值):

            粒徑0.6nm~10μm

            濃度范圍0.00001~40%

            溫度范圍0~90℃*


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