DDR應(yīng)用現(xiàn)狀：
隨著近十年以來智能手機(jī)、智能電視、AI技術(shù)的風(fēng)起云涌，人們對容量更高、速度更快、能耗更低、物理尺寸更小的嵌入式和計算機(jī)存儲器的需求不斷提高，DDR SDRAM也不斷地響應(yīng)市場的需求和技術(shù)的升級推陳出新。
目前，用于主存的DDR SDRAM系列的芯片已經(jīng)演進(jìn)到了DDR5了，但市場上對經(jīng)典的DDR3 SDRAM的需求仍然比較旺盛。
測試痛點(diǎn)：
測試和驗(yàn)證電子設(shè)備中的DDR內(nèi)存，客戶一般面臨三大難題：
1.如何連接DDR內(nèi)存管腳；
2.如何探測和驗(yàn)證突發(fā)的讀寫脈沖信號；
3.配置測試系統(tǒng)完成DDR內(nèi)存一致性測試。
泰克測試方案：
為解決研發(fā)人員在DDR內(nèi)存系統(tǒng)研發(fā)、調(diào)試和驗(yàn)證測試的難題，推薦配置基于泰克示波器MSO64B的內(nèi)存調(diào)試及一致性測試系統(tǒng)，主要功能如下：
· 完整的覆蓋DDR3和LPDDR3規(guī)范測試的項(xiàng)目
· 自動實(shí)現(xiàn)突發(fā)Write/Read信號分離，可以在同一次采集數(shù)據(jù)中完成參數(shù)測試；
· 對控制器端可以自定義修改電平門限，適用不同存儲接口的設(shè)計；
· 支持CMD總線解碼，更加直觀的反應(yīng)內(nèi)存總線讀寫時序；
· 同時兼顧標(biāo)準(zhǔn)化測試和單項(xiàng)調(diào)試，可以用于產(chǎn)品調(diào)試和驗(yàn)證環(huán)節(jié)；
· 自動生成一致性測試報告，匯總測試數(shù)據(jù)和關(guān)鍵波形截圖
· TDP77系列三模探頭，提供DDR測試專用FLEXB柔性連接附件，針對DDR芯片/顆粒狹小空間設(shè)計，配合Interposer完成各種類型DDR芯片的信號連接
系統(tǒng)中的泰克示波器MSO6B是全新一代高精度/多通道信號采集與分析設(shè)備，具有12bits高分辨率ADC，uV級的本底噪聲和50Gs/s高采樣率，準(zhǔn)確捕獲和分析DDR讀寫和控制信號FlexChannel技術(shù)通過TLP058探頭可以靈活將任一模擬通道轉(zhuǎn)變?yōu)?路數(shù)字通道，實(shí)現(xiàn)數(shù)字通道測試。
方案優(yōu)勢：
使用泰克DDR測試系統(tǒng)，工程師可以享受到如下便利：
· 無需參考復(fù)雜的JEDEC規(guī)范，快速測試關(guān)鍵指標(biāo)系統(tǒng)參數(shù)，找到系統(tǒng)潛在風(fēng)險；泰克提供與JEDEC聯(lián)合發(fā)布的測試MOI，指導(dǎo)使用者輕松完成信號連接、儀器設(shè)置與全自動或手動測試。
· 通過探頭可以將系統(tǒng)工作時的波形準(zhǔn)確的采集下，提供最直接最深入的信號接口時序/幅度信息，無需設(shè)置特定的測試場景；
· 對特殊場景下DDR/LPDDR的應(yīng)用提供測試能力，可以確保系統(tǒng)性能的前提下找到芯片工作的極限條件；
· 無需人工進(jìn)行READ/WRITE的區(qū)分，全自動軟件判斷，或者通過CMD總線進(jìn)行聯(lián)合調(diào)試，發(fā)現(xiàn)潛在的時序風(fēng)險；
核心技術(shù)指標(biāo)：
1. 模擬通道數(shù)：不小于4通道
2. 帶寬：不低于8GHz
3. 最高采樣率：不小于50Gs/s
4. 垂直分辨率：不小于12bits（硬件，非軟件實(shí)現(xiàn)）
5. 數(shù)字通道數(shù)：可支持32路數(shù)字通道
6. 本底噪聲 (50Ω阻抗，4GHz，1mV/div，RMS) ：不大于100µV
7. 可視化觸發(fā)：支持20個用戶繪制區(qū)域的軟件觸發(fā)
8. 支持DDR3分析與調(diào)試功能，支持用戶定義DDR速率
9. 支持自動DDR3一致性測試功能
10. 支持limit極限測試，支持用戶自定義極限；支持自定義測試循環(huán)次數(shù)
11. 提供4只帶寬不小于1GHz，電容不大于4pF無源高阻探頭
我們的優(yōu)勢：是德、泰克、日置、固緯、艾德克斯、普源、同惠、鼎陽、安柏等。
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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