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            IT8700P多通道電子負(fù)載測試轉(zhuǎn)換器解密

            閱讀:178      發(fā)布時(shí)間:2025-3-25
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            問:AC/DC和DC/DC轉(zhuǎn)換器廣泛應(yīng)用在各行各業(yè),比如手機(jī)、數(shù)碼相機(jī)、UPS電源內(nèi)部、電動(dòng)汽車等等。對于生產(chǎn)廠商來說,轉(zhuǎn)換器的性能、安全、轉(zhuǎn)換效率都是決勝市場的重要因素。所以從研發(fā)到生產(chǎn)每一步都需要去測試, 直流負(fù)載就是這些測試中至關(guān)重要的工具,不但可測試產(chǎn)品的正常工作電壓、電流及功率外,還可以輕易的測試產(chǎn)品在臨介值狀態(tài)、動(dòng)態(tài)變化及反應(yīng)時(shí)間等等。但是工程師在使用負(fù)載測試產(chǎn)品的保護(hù)功能時(shí),會發(fā)現(xiàn)有時(shí)候無法正常使用負(fù)載,這又是什么原因造成的呢?

            答:今天我們就使用ITECH近期升級的一款高性能電子負(fù)載產(chǎn)品,IT8700P多路輸入可編程直流電子負(fù)載來進(jìn)行測試一個(gè)DC/DC組件,實(shí)際測試解密一下。IT8700P為高性能可編程多路電子負(fù)載IT8700的升級版本,保持了原有的25KHZ的較高動(dòng)態(tài)測試速度,并且具備多個(gè)可選模塊以及功能強(qiáng)大的主控機(jī)箱,并為了一進(jìn)步滿足不同客戶的測試需求,可選配前置端子接線功能,并且對斜率速度,DAC 輸出速度,CV 環(huán)路速度進(jìn)行了一系列優(yōu)化升級,能更好的滿足測試需求。

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            解密測試

            ◆測試儀器

            IT8732P(80V/60A/400W)+IT8702P(主控單元)

            ◆測試背景

            DC/DC組件正常工作輸出電壓為5V/1A。在電流上升超過2.8A時(shí),產(chǎn)品會進(jìn)入OCP的保護(hù)模式,直到異常狀況排除后才會再回到正常工作模式。

            ◆測試問題1

            1、Von設(shè)定為0.1V, latch設(shè)為off。

            2、IT8732P設(shè)定為1A CC mode 拉載,待測物正常工作,輸出5V/1A。

            3、拉載電流增加到3A,待測物應(yīng)該進(jìn)入OCP保護(hù)模式。但此時(shí)卻處于振蕩的狀態(tài),電壓值由0V ~ 4.8V 振蕩。此時(shí)如果再將IT8732P的拉載電流降為1A,待測物則處于正常工作模式5V, 1A。

            問題解密

            造成振蕩原因是因?yàn)榇郎y物在進(jìn)入OCP后的電壓相互拉扯的結(jié)果。Von設(shè)定為0.1V, latch設(shè)為off。當(dāng)待測物進(jìn)入OCP后,電壓值低于0.1V時(shí),負(fù)載也會泄載,拉載電流下降,待測物測到電流低于其設(shè)定值后即恢復(fù)正常,電壓回升后,負(fù)載又會進(jìn)行拉載,此時(shí)又造成待測物進(jìn)入OCP保護(hù),如此循環(huán)就會造成振蕩現(xiàn)象。所以此時(shí)我們只要把Von設(shè)定為0.001V時(shí),此現(xiàn)象就不再發(fā)生,當(dāng)然這也是和待測物設(shè)計(jì)特性有相關(guān)。

            ◆測試問題2

            1、Von設(shè)定為0.001V, latch設(shè)為off。

            2、IT8732P設(shè)定為1A CC mode 拉載,待測物正常工作,輸出5V/1A。拉載電流增加到3A,待測物進(jìn)入OCP保護(hù)模式。

            3、拉載電流回到1A,待測物沒有恢復(fù)成工作模式5V/1A。必須要先把IT8732P泄載切到OFF后,再加載切為ON時(shí),待測物才會再處于正常的工作模式。

            問題解密

            待測物在進(jìn)入OCP后的電壓值約為0.017V,電流值約為0.81A。而IT8732P的最小工作電壓為0.15V at 6A,相當(dāng)于0.025V at 1A。所以當(dāng)拉載電流由3A回到1A時(shí),由于待測物電壓值尚在0.017V低于0.025V,加上待測物本身設(shè)計(jì)OCP釋放的關(guān)系,導(dǎo)致Load回到1A時(shí),待測物仍無法正常工作,必須滿足拉載電流低于0.8A及大于load最小工作電壓,待測物才能恢復(fù)正常工作。

            ◆測試問題3

            1、Von設(shè)定為0.001V, latch設(shè)為off。

            2、待測物正常工作5V/1A時(shí),執(zhí)行Short功能,電壓降至約0V。

            3、當(dāng)Short功能OFF時(shí),負(fù)載設(shè)定值恢復(fù),待測物電壓并未回到5V。必須把IT8732P泄載切到OFF后,再加載切為ON時(shí),待測物才會再處于正常的工作模式。

            問題解密

            執(zhí)行SHORT功能后,待測物約為0.017V/0.81A。在SHORT功能OFF時(shí),應(yīng)該是要恢復(fù)回5V/1A,但當(dāng)SHORT功能恢復(fù)時(shí),即回到設(shè)定值的1A拉載,其值仍高于0.81A,故待測物仍處于未釋放的狀態(tài),所以 SHORT功能OFF時(shí),其值仍為電壓0.017V,電流0.81A。當(dāng)load泄載后,待測物才能恢復(fù)正常。

            從以上的測試我們可以看到,不同的待測物由于其不同的設(shè)計(jì)特性,在進(jìn)入保護(hù)后其電壓值與電流值的關(guān)系與負(fù)載的性能會有些許沖突,導(dǎo)致測試時(shí)發(fā)生異常。所以我們在測試時(shí)要了解待測物與測試儀器本身的規(guī)格、特性與限制,才能避免造成誤判,發(fā)揮測試儀器的最大效用。比如以上案例,我們只需在待測物進(jìn)入OCP后,先將IT8732P的拉載電流降到0.8A以下,使得待測物釋放后再進(jìn)行下一個(gè)測試程序,即可完成測試。

            關(guān)于ITECH

            艾德克斯電子一直致力于“功率電子"產(chǎn)品為核心的相關(guān)產(chǎn)業(yè)測試領(lǐng)域的研究,IT8700P系列多路輸入可編程直流電子負(fù)載繼承了艾德克斯產(chǎn)品一貫的高性能、高品質(zhì),采取模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),擁有動(dòng)態(tài)分配功率的技術(shù),可應(yīng)用于多路或單路輸出的AC/DC、DC/DC電源轉(zhuǎn)換器、充電器等電源類電子元器件性能的測試,也可應(yīng)用于ATE測試系統(tǒng)、太陽能電池、LED、通訊測試、航空航天等領(lǐng)域。

            我們的優(yōu)勢:是德、泰克、日置、固緯、艾德克斯、普源、同惠、鼎陽、安柏等。

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