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產品簡介
詳細介紹
NTA納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView
儀器簡介：
NTA納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView所具備的單一顆粒跟蹤技術，結合經典微電泳技術和布朗運動成為現代的分析手段。自動校準和自動聚焦功能，讓用戶眼見為實，更加直觀人性化。通過子體積的掃描，來自于數以千計的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結果就可以計算出來。此外，顆粒濃度也可以通過視頻計數分析得到。技術支持-zetaview納米顆粒分析儀維修
NTA納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView的特點 - 全自動和無源穩(wěn)定性
自動校準程序會持續(xù)工作，即便是樣品池被取出后。防震動設計提高了視頻圖像的穩(wěn)定性。通過掃描多個子體積并進行平均，就可以得到可靠的統(tǒng)計結果。有3種測量模式可供選擇：粒徑，zeta電位和濃度。樣品池通道集成在一個插入式的盒子中，盒子可提供溫度控制以及同管理單元的耦合。
自動掃描，可達100個子體積；
自動聚焦；
小巧，便于攜帶；
防震動；
光源從紫外線到紅光；
插入式樣品池；
理論
平移擴散常數可通過直接觀測待測顆粒的布朗運動計算得到。通過測試電泳遷移率，可以得到zeta電位。
納米粒子跟蹤分析（NTA）和動態(tài)光散射（DLS）
所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術，都存在一個問題：當顆粒大小低于100nm時，靈敏度會迅速的降低。動態(tài)光散射技術的MIN檢測限是0.5nm，對于納米顆粒跟蹤分析，其MIN檢測限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區(qū)別就在于濃度范圍。對于DLS，當樣品濃度太低時，普邁精醫(yī)NTA納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView可以非常圓滿的完成檢測任務。相反，對于高濃度的樣品，DLS方法會非常的適合。
測量范圍
測量范圍依賴于樣品和儀器。對于金樣品，顆粒跟蹤技術的檢測下限為10nm；相應的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測下限會變得更大。假如樣品穩(wěn)定，不會沉淀或漂浮，zeta電位測量的粒徑上限為50微米，對于粒徑測量為3微米。
源于視頻分析的顆粒計數
顆粒濃度可通過視頻分析得到，并歸一化處理，散射體積對粒徑?？蓹z測的MIN濃度為105粒子/cm3，MAX為109粒子/cm3。對于200nm的顆粒，MAX體積濃度為1000ppm。
準確度和精度
Zeta電位：準確度5mv，精度4mv，重現性5mv；
粒度測試（對于100納米的標準乳膠顆粒）：準確度6nm，精度4nm，重現性4nm；
濃度測試（100納米的顆粒，濃度10Mio粒子/ml）：準確度0.8 Mio/ml，精度0.5Mio/ml，重現性1Mio/ml；
只要相機設置正確，樣品處理適當，則以上所有的數據均有效。技術支持-zetaview納米顆粒分析儀維修
方法
NTA納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView激光散射顯微鏡對于低于1微米衍射極限100倍的納米粒子是非常敏感的。
技術參數
測量原理 | zeta電位（微電泳），粒徑（布朗運動），顆粒濃度（視頻評價） |
光學設計 | 具有單個粒子跟蹤功能的激光散射視頻顯微鏡 自動校準，自動聚焦 |
測量池 | 石英玻璃通道，插入式盒子，配有2個接口，用于流動沖洗和小體積傳輸 |
施加電壓 | Zeta電位：-24V，+24V 粒徑：0V |
光學系統(tǒng) | 顯微鏡物鏡10倍變焦，數字相機，640×480px，30和60幀每秒 激光類型依賴于應用 |
Zeta電位測試范圍 | -500~500mv |
可測的粒徑范圍 | Zeta電位：0.01-100微米 粒徑：0.01-3微米 下限和上限依賴于樣品和激光 |
PH范圍 | 1-13 |
溫度范圍 溫度控制 | 5-45℃（環(huán)境溫度） RT-5℃，MAX45℃ |
電導率范圍 | 0-15ms/cm |
內部控制-輸出 | 溫度，電導率，電場，漂移 |
準確度 | Zeta電位：±4mv；粒徑：±6nm（100nm的乳膠粒子標準品） |
重現性 | Zeta電位：±4mv；粒徑：±5nm（100nm的乳膠粒子標準品） |