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            微量分析天平的基本原理和使用

            閱讀:1247      發(fā)布時間:2024-8-15
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            微量分析天平是一種高精度的測量設備,專門設計用于測量微小質(zhì)量的天平,廣泛應用于需要高精度稱量的領域,主要用于測量非常微小的質(zhì)量值,通常具有高精度和高靈敏度。
             
            基本原理:
            微量天平通過電磁力平衡原理工作,利用縣掛點的彈性力與電磁力相平衡來測量物體的質(zhì)量。具體來說,當被測物體放置在天平的秤盤上時,天平的傳感器會產(chǎn)生形變,這個形變通過杠桿機構傳遞到磁鋼,磁鋼產(chǎn)生位移又引起磁感應強度變化,進而改變線阻抗,導致電路電流變化。這個電流的變化值與被測物體的質(zhì)量成正比,通過測量這個電流的變化量,就可以得到被測物體的質(zhì)量值。
             
            選購:
            根據(jù)實際需求選擇合適的精度和量程。
            考慮天平的穩(wěn)定性、重復性、易用性等因素。
            選擇品牌可靠的供應商,確保產(chǎn)品質(zhì)量和售后服務。

            使用:
            將天平放置在穩(wěn)定的工作臺上,避免振動或氣流影響。
            避免被測物體受到額外壓力或摩擦力,以免影響測量結果。
            遵循先開天平后加物的原則,避免損壞天平的傳感器或測量系統(tǒng)。
            定期清潔天平的秤盤和傳感器保持基清潔干燥。

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