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            寫真化學用于沉積拋光和蝕刻過程中測厚儀
            • 寫真化學用于沉積拋光和蝕刻過程中測厚儀

            貨物所在地:北京北京市

            地: 日本

            更新時間:2024-11-02 15:14:05

            瀏覽次數(shù):35

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            寫真化學用于沉積拋光和蝕刻過程中測厚儀,反射涂層厚度監(jiān)測儀是一種光學干涉反射光譜涂層測厚儀,它使用微型反射探頭,可應用于從實驗室級別到生產(chǎn)過程中的在線檢查的所有情況。 它具有出色的可維護性,可用于集成到工藝設(shè)備和生產(chǎn)線管理應用中。最多可同時測量 9 種類型的透明膜。它具有出色的可維護性,可用作工藝設(shè)備或生產(chǎn)線管理應用的集成。

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            反射涂層厚度監(jiān)測儀是一種光學干涉反射光譜涂層測厚儀,它使用微型反射探頭,可應用于從實驗室級別到生產(chǎn)過程中的在線檢查的所有情況。 它具有出色的可維護性,可用于集成到工藝設(shè)備和生產(chǎn)線管理應用中。
            最多可同時測量 9 種類型的透明膜。
            它具有出色的可維護性,可用作工藝設(shè)備或生產(chǎn)線管理應用的集成。
            例如,在沉積、拋光和蝕刻過程中,它可以用作在線監(jiān)視器或終點監(jiān)視器(終點檢測傳感器),從而實現(xiàn)薄膜厚度的實時監(jiān)控(實時監(jiān)控)。
            它還可用于評估多晶硅的結(jié)晶度多孔薄膜的密度。

            設(shè)備配置


            光束形狀

            探針到被測樣品的距離為 30 mm 時的模擬結(jié)果

            照明區(qū)域 測量區(qū)域

            測量目標

            • 半導體
              半導體

            • 太陽能電池
              太陽能電池

            • 平板顯示器
              平板顯示器

            • 玻璃(涂層)和薄膜
              玻璃(涂層)和
              薄膜





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