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            SHASHIN寫真化學自動檢測缺口測厚儀
            • SHASHIN寫真化學自動檢測缺口測厚儀

            貨物所在地:北京北京市

            地: 日本

            更新時間:2024-11-02 16:05:15

            瀏覽次數(shù):21

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            SHASHIN寫真化學自動檢測缺口測厚儀,映射涂層測厚儀能夠在最大 300 mm 的晶圓的所有表面上自動映射膜厚測量。 自動對位功能和使用具有高平整度的晶圓卡盤可實現(xiàn)可靠的薄膜厚度測量。 此外,它可以安裝在半導體制造設(shè)備的負載端口,以在保持清潔度的同時管理制造設(shè)備上的薄膜厚度。

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              • 能夠?qū)ψ畲?300 mm 的晶圓的整個表面進行自動涂層厚度映射測量


              • 2

              • 自動對位功能


              • 通過自動檢測缺口和無花柱位置,以及自動檢測晶圓偏心率,實現(xiàn)高精度測量。

              • 3

              • 通過使用具有高平整度的晶圓卡盤,提高晶圓表面的測量可靠性


              • 4

              • 可根據(jù)應(yīng)用選擇三種類型的光源。


              • 5

              • 透明蓋,便于在測量過程中查看運動


              • 6

              • 一體化節(jié)省空間的設(shè)計

            長處

            映射涂層測厚儀能夠在最大 300 mm 的晶圓的所有表面上自動映射膜厚測量。 自動對位功能和使用具有高平整度的晶圓卡盤可實現(xiàn)可靠的薄膜厚度測量。 此外,它可以安裝在半導體制造設(shè)備的負載端口,以在保持清潔度的同時管理制造設(shè)備上的薄膜厚度。


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