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當前位置：> 供求商機> 可實現(xiàn)短至1毫秒的高速采樣測厚儀
紅外透射膜厚度監(jiān)測器可測量電池隔膜等半透明片材、黑色光刻膠等低反射膜和硅的厚度。 它是一種紅外吸收涂層測厚儀，可應用于從實驗室級別到生產(chǎn)過程中的在線檢查的所有情況。
它是一種紅外薄膜測厚儀，采用由緊湊型鏡面探頭組成的透射光學系統(tǒng)，可通過同時測量 100 多個波長的光譜儀，準確測量薄膜厚度、密度、成分等多個參數(shù)。
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由于使用了 30 毫米的小型反射探頭，
它可以安裝在設備或生產(chǎn)線的狹小空間內(nèi)。
此外，由于探頭僅通過
光纖連接到主機，因此具有出色的耐環(huán)境性。
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可實現(xiàn)短至 1 毫秒的高速采樣。
可以在生產(chǎn)線上進行實時檢測和測量。
由于干涉濾光片不旋轉(zhuǎn)，因此具有出色的耐用性和可靠性。
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| 測量算法 | 校準樣品 | 測量目標 |
|---|---|---|
| Beer-Lambert 法 | 1 種 | 僅厚度 |
| 最小二乘回歸 | 2 種或更多類型 | 倍數(shù)（厚度、密度、特定成分的混合量等） |
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