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介紹了選擇測試芯片的快速溫變試驗箱溫度范圍需考慮的幾個關鍵因素，
一是依據(jù)芯片應用場景，針對消費電子芯片、汽車電子芯片、航空航天芯片等不同應用領域的芯片，分別給出相應適宜的溫度范圍選擇建議；
二是結(jié)合芯片規(guī)格要求，通過查看芯片數(shù)據(jù)手冊以及考慮芯片可靠性要求來確定合適的溫度范圍；
三是參考相關的國際、國家標準，如 MIL-STD-810G 標準、GB/T 2423 標準中規(guī)定的溫度范圍，綜合這些方面來準確選擇滿足芯片測試需求的試驗箱溫度范圍。
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