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            廣東皓天檢測儀器有限公司
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            三箱式冷熱沖擊試驗箱芯片行業(yè)使用設備
            • 三箱式冷熱沖擊試驗箱芯片行業(yè)使用設備

            貨物所在地:廣東東莞市

            地: 廣東省東莞市常平鎮(zhèn)常平中信路101號1號樓102室

            更新時間:2024-08-31 11:23:40

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            快速溫變試驗箱
            快速溫度變化試驗箱
            高低溫快速溫變試驗箱
            快速溫度循環(huán)試驗箱
            快速溫變濕熱試驗箱
            線性快速溫變試驗箱
            電磁式振動臺
            電磁式振動試驗臺
            電磁式垂直水平振動臺
            電磁振動臺
            恒溫恒濕高低溫試驗箱
            冷熱沖擊試驗箱
            高低溫測試箱
            復層式溫濕度試驗箱
            電池隔爆試驗箱
            分體式高低溫試驗箱
            紫外線老化試驗箱
            耐寒耐濕/折彎試驗機
            高溫烤箱干燥箱
            鹽霧試驗箱
            步入式試驗箱
            箱式防水/淋雨試驗箱
            高低溫低氣壓試驗箱
            砂塵試驗箱
            高加速應力試驗箱
            模擬運輸振動臺
            拉力試驗機
            霉菌試驗箱
            風化箱
            IK垂直擊試驗機
            三綜合試驗箱
            三箱式冷熱沖擊試驗箱在芯片行業(yè)發(fā)揮著重要作用。它擁有三個獨立箱體,分別實現高溫、低溫和測試區(qū)的精準控制。對于芯片行業(yè)而言,該設備能模擬各種不同的溫度環(huán)境變化,檢測芯片在不同溫度沖擊下的性能和可靠性。精準的溫度控制和快速的溫度轉換確保測試結果準確可靠。幫助芯片企業(yè)提前發(fā)現產品潛在問題,提升芯片質量,為芯片行業(yè)的發(fā)展提供有力的檢測支持,是芯片企業(yè)不可少的重要設備。三箱式冷熱沖擊試驗箱芯片行業(yè)使用設備


            三箱式冷熱沖擊試驗箱芯片行業(yè)使用設備



            在當今科技飛速發(fā)展的時代,芯片作為電子設備的核心部件,其質量和可靠性至關重要。而三箱式冷熱沖擊試驗箱,正是芯片行業(yè)中一款不可少的檢測設備。它以其出色的性能和精準的測試能力,為芯片的研發(fā)、生產和質量控制提供了有力的保障。


            一、主要功能及特點:


            功能:能夠快速實現高溫、低溫之間的切換,模擬芯片在實際使用中可能面臨的惡劣的溫度變化環(huán)境,對芯片的性能、可靠性進行嚴格測試。


            特點:


            1. 三箱獨立結構,確保溫度轉換高效、準確。

            2. 精準的溫度控制,溫度波動小,保證測試結果的可靠性。

            3. 操作簡便,智能化控制系統(tǒng),方便用戶進行參數設置和監(jiān)控。

            4. 具有良好的穩(wěn)定性和耐用性,能夠長時間連續(xù)工作。







            二、TSD-150F-3P 參數:
            • 溫度范圍:高溫區(qū) +60℃~+150℃,低溫區(qū) -10℃~-65℃。

            • 溫度波動度:高溫區(qū) ±0.5℃,低溫區(qū) ±1.0℃。

            • 溫度均勻度:高溫區(qū) ±2.0℃,低溫區(qū) ±2.0℃。

            • 升溫速率:從常溫升溫至 +150℃約 30 分鐘。

            • 降溫速率:從常溫降溫至 -65℃約 60 分鐘。

            • 工作室尺寸:寬 × 高 × 深為 600mm×500mm×500mm。



            三、具備測試條件:
            該試驗箱具備精準的溫度控制能力,能夠在高溫與低溫之間快速切換,模擬各種不同的溫度變化情況。無論是三箱式還是二箱式,都擁有寬敞的測試空間,可滿足不同尺寸產品的測試需求。同時,配備高性能的監(jiān)測系統(tǒng),實時記錄測試過程中的溫度、時間等參數,為測試結果的準確性提供保障。


            四、滿足以下標準


            一、國際標準


            1. IEC 60068-2-14:環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 N:溫度變化。

            2. MIL-STD-810F:美國J用標準,環(huán)境工程考慮和實驗室試驗方法。


            二、國家標準


            1. GB/T 2423.1-2008:電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 A:低溫。

            2. GB/T 2423.2-2008:電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 B:高溫。

            3. GB/T 2423.22-2012:環(huán)境試驗 第 2 部分:試驗方法 試驗 N:溫度變化。





            三箱式冷熱沖擊試驗箱芯片行業(yè)使用設備



            三箱式冷熱沖擊試驗箱在芯片行業(yè)中扮演著關鍵的角色。它的出現,為芯片企業(yè)提升產品質量、增強市場競爭力提供了有力的支持。選擇三箱式冷熱沖擊試驗箱,就是為芯片的出色品質保駕護航


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